光電子材料高度溫度試驗室產(chǎn)品用途：（.zdsyt）  

該產(chǎn)品造用于零部件、電子元件、金屬材料的防護層以及工業(yè)產(chǎn)品的鹽霧腐蝕試驗。  

光電子材料高度溫度試驗室性能指標：  

工作室尺寸：750×1100×500（cm）  

溫度范圍：＋5℃～＋55℃  

溫度均勻度：≤±2℃  

溫度波動度：≤±0.5℃  

飽和桶溫度：35～55℃  

鹽霧沉降量：1～2ml/80cm2.h  

噴霧方式：連續(xù)、周期任選  

試驗定時：1～999（S、M、H）可調(diào)  

試樣架：試樣架可滿足15℃~３０℃傾斜試驗  

光電子材料高度溫度試驗室箱體結(jié)構(gòu)：  

整體模壓經(jīng)高溫焊接而成、耐腐蝕、易清潔、無泄露現(xiàn)象。  

塔式噴霧系統(tǒng)，并裝有鹽液過濾系統(tǒng)，無結(jié)晶噴嘴，鹽霧分布均勻，沉降量自由調(diào)整。  

箱蓋采用透明材料可清楚看到箱內(nèi)測試物品和噴霧狀況。  

箱蓋和箱體之間采用水密封結(jié)構(gòu)，無鹽霧溢出。  

線路控制板及其它元氣件均固定在便于檢查和維護的位置。  

光電子材料高度溫度試驗室控制系統(tǒng)：  

高精度P.I.D.控溫儀，誤差為±0.1℃。  

連續(xù)或周期噴霧任選。  

所有電路均裝有斷路器，所有加熱器均帶有電子和機械過熱保護裝置。  

多重系統(tǒng)保護，使用安全可靠。  

光電子材料高度溫度試驗室試驗方法：  

中性鹽霧試驗（NSS試驗）  

醋酸鹽霧試驗（ASS試驗）  

鹽霧試驗（SS試驗）  

銅加速醋酸鹽霧試驗（CASS試驗）  

本試驗箱符合：  

GB2423.17-93，GB2423.17《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗Ka》鹽霧試驗方法及GB10587、GJB150、DIN50021持續(xù)鹽霧以及等效的IEC、MIL、DIN、ASTM等相關(guān)標準

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