高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；特別適用于光纖、LCD、晶體、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)?！　?/span>

　　高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

　　設(shè)備型號：HL-80

　　溫度范圍：-70℃～+100℃

　　溫度偏差：≤±2.0℃

　　溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

　　升溫時(shí)間：2~3℃/min（設(shè)備空載時(shí)）

　　降溫時(shí)間：0.7~1℃/min（設(shè)備空載時(shí)）

　　工作室尺寸（深×寬×高）：400*400*500mm

　　外型尺寸（深×寬×高）：950*950*1360mm

高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn):

　　低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB10589-2006

　　高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB10592-2006

　　高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB11158-2006

　　低溫試驗(yàn)方法A:GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)

　　高溫試驗(yàn)方法B:GB2423.2-2001(IEC68-2-2)

　　高低溫交變試驗(yàn)（僅濕熱型）:GB/T2423.4-1993

　　高溫試驗(yàn)方法:GJBl50.3-86(MIL-STD-810D)

　　低溫試驗(yàn)方法:GJBl50.4-86(MIL-STD-810D)

　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備:GB/T5170.2-1996

東莞艾思荔試驗(yàn)設(shè)備有限公司研發(fā)生產(chǎn)各類試驗(yàn)設(shè)備模擬自然環(huán)境,如高溫、低溫、濕熱、高低溫交變、鹽霧、氙燈、紫外光、淋雨、沙塵、大氣塵、真空干燥箱、電爐系列等......在光照耐氣候試驗(yàn)、二廂和三廂沖擊試驗(yàn)、淋雨試驗(yàn)、大型步入式試驗(yàn)等非標(biāo)試驗(yàn)設(shè)備方面具備的設(shè)計(jì)及制作能力