羅何燕
業(yè)務(wù)經(jīng)理
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與RAM DA 2000多用途輻射測(cè)量?jī)x配套的外接探頭
1、PA-100 α表面污染檢測(cè)儀
探測(cè)器類型： 正比計(jì)數(shù)器
有效面積： 100cm2
窗 厚： 0.85mg/ cm2鋁膜
探測(cè)效率： 18%（241Am）（2π）
表面靈敏度： 530cpm/Bq/ cm2*
精確度： 讀數(shù)的±15%（241Am）
大計(jì)數(shù)率： 3×106cpm
輸出信號(hào)： TTL脈沖：探頭情形：ID，正常，故障
尺 寸： 240mm×75mm×55mm
外 殼： 鋁，防濺
2、PM-10高效閃爍χ、γ輻射探頭
探測(cè)射線： 低能χ、γ，10Kev～80Kev
閃 爍 體： NaI（TI）φ2＂×0.04＂，窗厚1mil
（0.001＂）鋁膜
能量校正： SCA測(cè)量范圍內(nèi)±5Kev（?。?/span>
計(jì)數(shù)率范圍：0～50000cps
輸出信號(hào)： TTL脈沖；探頭情形；ID，正常，故障，溢出
尺 寸： 290mm×70mm
外 殼： 鋁，防濺
3、PM-11閃爍γ輻射探頭
探測(cè)射線： 超過50Kev的γ射線
閃 爍 體： NaI（TI）φ2＂×2＂，窗厚1mm。（0.04＂）鋁
能量刻度： 能量范圍內(nèi)可選廠家刻度的單道分析器（SCA）
計(jì)數(shù)率范圍：0～50.000cps
輸出信號(hào)： TTL脈沖；探頭情形；ID，正常，故障，溢出
尺 寸： 340mm長(zhǎng)，70mm寬
外 殼： 鋁，防濺
4、IC—10A電離室χ、γ探頭
測(cè)量范圍： 1μSv/h～250mSv/h(0.1mR/h～25R/h)
顯示范圍： 1μSv/h～250mSv/h(0.1mR/h～25R/h)
靈敏度： 0.1μSv/h～250mSv/h(0.01mR/h～25R/h)
精 確 度： 測(cè)量范圍內(nèi)讀數(shù)的±15%
能量相關(guān)： ≤±20%在20Kev～1.2MeV范圍（137Cs）
角度相關(guān)： 小于±5%（探頭前方±1200，137Cs）
電離室體積： 500cc
電離室厚度： 壁和蓋300mg/cm2， 端窗厚度7mg/ cm2
響應(yīng)時(shí)間：
范 圍 時(shí) 間 量 程
1μSv/h～10μSv/h 12s 低
10μSv/h～100μSv/h 8s 低
100μSv/h～ 2mSv/h 4s 低
0.1mSv/h ～220mSv/h 2s 高
輸入信號(hào)： 補(bǔ)償操作控制，高低量程控制
輸出信號(hào)： TTL脈沖，探頭情形；ID，電離室電壓故障
尺 寸： 電離室 φ 8.9cm × 11.7cm
手柄φ5.2cm × 14.3cm
電 離 室： 聚丙烯塑料 手 柄：鋁，防濺 電纜大長(zhǎng)度：10米
儀表網(wǎng)