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四探針探頭 探頭

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具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號LDX-GSZ-HP-501

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地濟寧市

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更新時間：2021-03-10 09:59:22瀏覽次數(shù)：524次

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四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。


四探針探頭 探頭 型號：LDX-GSZ-HP-501

四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

 

四探針探頭 探頭 型號：LDX-GSZ-HP-501


 

 

 

 

 

四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

 

◆ 特性及規(guī)格：
 

1

特制之手握式探筆

2

球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷

3

探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞

4

探頭使用壽命長

5

探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

型號
（Model）

曲率半徑
（Radius）

壓力
（loads）

探針間距
（spacing）

探針排列
（Arrangement）

LDX-GSZ-HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直線

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