產(chǎn)品概述：
     FCZ雷擊計數(shù)器動作校驗儀用于檢測避雷器計數(shù)器能否動作，避雷器計數(shù)器在運行中可能進入潮氣或水分，使內(nèi)部元件銹蝕，導致記數(shù)器不能正常動作，所以《規(guī)程》規(guī)定，每年應檢查1次?，F(xiàn)場檢查記數(shù)器動作的方法有電容器放電流支、交流法和標準沖擊電流法。研究表明，以標準沖擊電流法，將沖擊電流發(fā)生器發(fā)生的8／20μs、100A的沖擊電流波作用于動作記數(shù)器，若記數(shù)器動作正常，則說明儀器良好，否則應解體檢修。
《規(guī)程》規(guī)定，連續(xù)測試3～5次，每次應正常動作，每次時間間隔不少于30s。測試后記錄器應調(diào)到0。 
二.技術參數(shù)：
     1.輸出電壓：DC2000V±5%
     2.間隔時間：≥30s
     3.供電電源：AC200V±10% 50Hz±2%
     4.沖擊電流：≥100A（8/20μs）
      5.體    積：205×175×155mm
     6.重    量：2.5kg
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 在直流電壓作用下，正負電暈極均在*電極附近聚集起空間電荷。在負極性電暈中，當電子碰撞電離后，電子被驅往遠離*電極的空間，并形成負離子，在靠近電極表面則聚集奇正離子，電場繼續(xù)加強時，正離子被吸進電極，此時出現(xiàn)一脈沖電流，負離子則擴散到間隙空間。此后又重復開始下一個電離及帶電粒子運動過程。如此循環(huán)，以致出現(xiàn)許多脈沖形式的電暈電流。若電壓繼續(xù)升高，電暈電流的脈沖頻率增加、負值增大，轉變?yōu)楦捷x光放電，電壓再升高，出現(xiàn)負流注放電，因其形狀又稱羽狀放電或稱刷狀放電。當負流注放電得以繼續(xù)發(fā)展到對面電極時，會導致火花放電，使整個間隙擊穿。正極性電暈在*電極附近也分布著正離子，但不斷被推斥向間隙空間，而電子則被吸進電極，同樣形成重復脈沖電流電暈。電壓繼續(xù)升高時，出現(xiàn)流注放電，并可導致間隙擊穿。

    電暈放電的特征是伴有"嘶嘶"的響聲，有時有微弱的輝光，當導體表面上有很小的*存在時，就會生電暈放電。電暈放電可能指向其他物體也可能不指向某一特定方向。電暈放電時，*附近的電場強度很強，*附近氣體被電離，電荷可以離開導體;而遠離*處場強急劇減弱，電離不*，因而只能建立起微小的電流。電呼和浩特雷擊計數(shù)器動作校驗儀選型暈放電的特征是伴 " 嘶嘶"的響聲，有時有微弱的輝光。電暈放電可以是連續(xù)放電，也可以是連續(xù)脈沖放電，電暈放電的能量密度遠小于火花放電的能量密度。在某些情況下，如果升高*導體的電位，電暈會發(fā)展成為通向另一物體的火花。 成品檢驗耐壓試驗時，一定將導體部位插入銅接頭里，擰緊固定螺絲，使其牢牢固定于電纜頭部，用棉布醮取*將絕緣外露部分仔細擦凈，如果導體和高壓部位接觸不好也導致*電暈放電。在三根絕緣線芯做高壓試驗時，一定將絕緣介質分離開，防止電暈相互放電，在剝頭時嚴格按照操作規(guī)程，用刨刀從電纜端部向里剝削半導電屏蔽層，剝?nèi)〗^緣及導體屏蔽，剝削長度 8.7/15KV 及以下大于15cm，12/20KV~20/35KV 為大于 20cm，剝離厚度要求以剛好剝?nèi)ソ^緣半導電屏蔽層為宜，注意后收刀動作，根部應圓整，不準有尖角，呼和浩特雷擊計數(shù)器動作校驗儀選型剝離后的絕緣部分不允許有較深的刀痕或黑色半導電屏蔽層殘屑。使用大終端時剝?nèi)〗^緣和導體屏蔽應使導體露出 5cm 為宜，小終端僅需剝?nèi)ネ馄帘?，表面不準有任?。