鋁層厚度測(cè)量?jī)x(電阻法)DMT-E根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 15717《真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法---電阻法》設(shè)計(jì),適用于測(cè)試鍍鋁薄膜鋁層的厚度。

鋁層厚度測(cè)量?jī)x(電阻法)由于真空鍍鋁薄膜上的鍍鋁層非常薄,因此不能用常規(guī)的測(cè)厚儀器檢測(cè)其厚度。由國(guó)家包裝產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心(濟(jì)南)起草的《 GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法--電阻法》于1996年頒布,詳細(xì)介紹了如何檢測(cè)絕緣軟基材表面的真空金屬鍍層厚度的測(cè)試方法。電阻法檢測(cè)鍍鋁層的厚度用表面電阻來(lái)表示,單位是Ω/□,數(shù)值越大說(shuō)明鍍鋁層厚度越薄,一般真空鍍鋁薄膜的表面電阻值為1.0-2.5Ω/□。

鋁層厚度測(cè)量?jī)x(電阻法)
鋁層厚度測(cè)量?jī)x(電阻法)主要參數(shù)
厚度測(cè)量范圍:厚度50-570A
電阻測(cè)量范圍:0-20Ω
電阻測(cè)量誤差:±1%
測(cè)量尺寸:100*100mm
距離精度:±0.1mm
溫度范圍:0~50℃,精度±1℃
外形尺寸:570mm×510mm×1520mm (長(zhǎng)寬高)
濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司研發(fā)的金屬鍍層測(cè)厚儀依據(jù)《GB/T 15717-1995 真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法--電阻法》制造而成,采用高精度接觸式測(cè)量,具備溫度補(bǔ)償功能,數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì),配備的微型打印機(jī)可快速打印出結(jié)果顯示方塊電阻值、厚度值、均勻度等相關(guān)數(shù)據(jù)。滿足各大企業(yè)、質(zhì)監(jiān)所及相關(guān)檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)絕緣軟基材表面的真空金屬鍍層厚度測(cè)量的需求。為包裝行業(yè)檢測(cè)產(chǎn)品質(zhì)量提供有力,也是目前國(guó)內(nèi)實(shí)驗(yàn)儀器行業(yè)的一大跨越。


