一、提籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱規(guī)格簡(jiǎn)介：

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)可根據(jù)客戶試驗(yàn)需要的不同可分為兩箱式與三箱式，從構(gòu)造上來(lái)說(shuō)三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗(yàn)室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過(guò)電機(jī)股動(dòng)提籃運(yùn)動(dòng)來(lái)完結(jié)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動(dòng)的。適用于航天、、 艦船、電工、電子、儀器儀表；科研；民用核能；高等院校；科研實(shí)驗(yàn)所；商檢仲裁、技術(shù)監(jiān)督部門；建材陶瓷；石油化工等產(chǎn)品、整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)。

二、冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

三、提籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱規(guī)格執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)以及滿足試驗(yàn)方法：

1.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

4. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

8.GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

四、冷熱沖擊試驗(yàn)箱注意事項(xiàng)：

1、請(qǐng)注意本機(jī)必須安全確實(shí)接地，以免產(chǎn)生靜電感應(yīng)。

2、高溫?zé)釟鉀_出箱外十分危險(xiǎn)。

3、避免于三分鐘內(nèi)關(guān)閉再開啟冷凍機(jī)組。

4、如果箱內(nèi)放置發(fā)熱試料時(shí)，試料電源控制請(qǐng)使用外加電源，不要直接使用本機(jī)電源。

5、于操作當(dāng)中，除非有必要，請(qǐng)不要打開箱門，否則可能導(dǎo)致下列不良的后果。

6、箱門內(nèi)側(cè)仍然保持高溫造成燙傷。

7、高溫空氣可能觸發(fā)火災(zāi)警報(bào)，產(chǎn)生誤動(dòng)作。

8、無(wú)熔絲開關(guān)(電路斷路器)、溫度超溫保護(hù)器，提供本機(jī)測(cè)試品以及操作者的安全保護(hù)，故請(qǐng)定期檢查。