閃絡(luò)法測(cè)試時(shí)故障點(diǎn)不放電波形
對(duì)于有些高阻故障，加高壓沖擊時(shí)，雖然球間隙放電，并且有時(shí)放電聲還較大（清脆），但故障點(diǎn)實(shí)際上并未形成閃絡(luò)放電，而是將電能緩慢釋放掉，這時(shí)，顯示波形就無法確定故障點(diǎn)。故障點(diǎn)不放電時(shí)，從波形上可顯示出來，從而可以采取其它測(cè)試方法迫使故障點(diǎn)放電。閃絡(luò)測(cè)試故障點(diǎn)不放電波形如圖22所示。

圖22 閃絡(luò)測(cè)試故障點(diǎn)不放電波形
波形特點(diǎn)：故障點(diǎn)不放電波形特點(diǎn)為發(fā)射脈沖為正波形，一次反射脈沖為負(fù)波形，二次反射波形又為正波形，以此類推。同時(shí)，發(fā)射波形同反射波形間距離等于電纜全長(zhǎng)。
遇到故障點(diǎn)不放電波形時(shí)，可按以下幾種方法迫使故障點(diǎn)閃絡(luò)放電：一是加大放電球隙，提高沖擊電壓；二是加大電容容量，增加沖擊能量；對(duì)于疑難故障，可長(zhǎng)時(shí)間施加沖擊高壓，迫使故障點(diǎn)形成固定放電通道，然后進(jìn)行測(cè)試。
2.5 沖閃法測(cè)試純短路故障波形
對(duì)于純短路故障（如直接將相地短接），可用沖閃法測(cè)試（如用沖閃法測(cè)電纜全長(zhǎng)、測(cè)速度）。短路是低阻故障的一個(gè)特例，用沖閃法測(cè)試純短路故障時(shí)，波形反射有其特殊性，例如用沖閃法測(cè)相地短接電纜時(shí)測(cè)試波形如圖23所示。

圖23 沖閃法測(cè)試純短路故障波形
波形特點(diǎn)：純短路故障測(cè)試時(shí)，其波形特點(diǎn)為發(fā)射波形和反射波形都為正脈沖波形，這與低壓脈沖測(cè)試終端開路故障波形相似。
定標(biāo)方法：分別用發(fā)射脈沖波形及反射脈沖波形上升沿與基線交點(diǎn)定光標(biāo)起點(diǎn)、終點(diǎn)。若是測(cè)故障，其測(cè)試距離就為故障距離；若是用好相終端短接測(cè)全長(zhǎng)，則二波形間距離就為電纜全長(zhǎng)。
了解純短路故障測(cè)試波形特點(diǎn)，有助于我們分析理解各種故障實(shí)測(cè)波形。在特殊情況下，也可用此種方法測(cè)電纜全長(zhǎng)或者測(cè)電波傳輸速度。