X射線熒光光譜分析的基本原理是:當物質(zhì)受到強烈的Ⅹ射線輻射時,物質(zhì)中各個組分的原子吸收了一部分入射射線的光量子,使原子的內(nèi)層電子由低能階激發(fā)到高能階。處于激發(fā)狀態(tài)的原子是極不穩(wěn)定的,勢必在一個極短時間內(nèi)釋放出多余的能量,使電子跳回到低能階。這部分釋放出來的能量即以X射線熒光的形式放出。受激的電子回到低能階可以有多種不同的電子躍遷過程。由量子力學理論可知,凡是符合選擇定則的躍遷都是允許的,也是可能發(fā)生的,否則就不可能發(fā)生。不同的躍遷過程所釋放出來的能量亦互不相同,即使使用單色X射線來輻射物質(zhì),所得到的Ⅹ射線熒光也有若干波長不同的譜線,如Kx、KB、La等。與一次Ⅹ射線譜一樣,每種元素都具有其一定波長的標識射線譜。所以,只要測定Ⅹ射線熒光光譜中每一條譜線的波長,并考慮X射線譜儀的分辨率,就可鑒別試樣中存在哪些元素。這是定性分析。

    定量分析是根據(jù)標準試樣先繪出工作曲線,然后對要測試樣進行對比分析。工作曲線是根據(jù)Ⅹ射線熒光光譜的譜線強度與元素含量之間的線性關(guān)系繪制的。試樣的不同厚度和不同狀態(tài)對X射線熒光光譜的譜線強度有一定影響。例如,測定波長較短的譜線強度時,由于這些譜線具有較高的穿透能力,因此對試樣的厚度應加以注意。在試樣的定厚度范圍內(nèi),X射線熒光光譜的譜線強度隨試樣厚度的增加而增大,只有當試樣厚度超過某一臨界值時,譜線強度才與試樣厚度無關(guān)。所以,要取得可靠的分析結(jié)果,必須使試樣具有足夠的厚度。

 　X射線熒光光譜分析的優(yōu)點：操作方便，準確度高，分析速度快，既可以做常量分析，又可測定純物質(zhì)中的某些雜質(zhì)元素。此外能分析的元素也比較多。最新式的X射線熒光光譜分析儀可以分析原子序數(shù)在9以上的所有元素。目前已成為爐前快速分析的主要設(shè)備。

X熒光光譜分析儀實現(xiàn)現(xiàn)場、快速、無損、準確的檢測,2-3秒顯示合金牌號、元素、百分比含量。采用智能光束（Smart Beam）可Ti、V精度可達0.02%,能很好的區(qū)分不銹鋼304 與321,鉻合金P91與9鉻,鈦合金7級鈦與純鈦等等。測試結(jié)果可以連接電腦輸出打印，儀器具有標準測試結(jié)果版本，極大方便客戶編輯、打印結(jié)果信息。用于不銹鋼、合金鋼、工具鋼牌號鑒定及成份、含量檢測，包含常用不銹鋼牌號201 203 301 304 316 321等幾百種。用于銅合金牌號及成份檢測，包含黃銅、青銅、紫銅、純銅等；用于各種混雜合金成份及檢測，包含鈦合金、錫合金、鉛合金、鎢合金、鋅合金、鋁合金、鎳合金等；用于貴金屬檢測。包含金、銀、鉑、銠、鈀。

　　　　　　　　　　　　　　　　南京諾金高速分析儀器廠

　　　　　　　　　　　　　　　　　　2023年4月27日