一、物理干擾

   物理干擾是指溶質(zhì)和溶劑的物理特性發(fā)生變化引起吸光度下降的效應(yīng)，主要指由于液的黏度、表面張力、密度等的差異引起的霧化效率、溶劑和溶質(zhì)的蒸發(fā)速率等變化而造成的干擾。含有大量的基體元素及其他鹽類(lèi)或酸類(lèi)也影響到溶液的物理性質(zhì)（產(chǎn)生基體效應(yīng)也會(huì)產(chǎn)生干擾。物理干擾是非選擇性干擾。

消除物理干擾的方法有：

①避免使用黏度大的酸作為介質(zhì)，降低試液黏度；

②加入一些有機(jī)溶劑；

③配制與被測(cè)試樣組成相似的標(biāo)準(zhǔn)溶液；

④當(dāng)樣品溶液濃度較高時(shí)，可稀釋試液。

無(wú)火焰原子吸收中的物理干擾包括：

①進(jìn)樣進(jìn)樣體積的大小、位置和幾何形狀都會(huì)產(chǎn)生影響；

②記憶效應(yīng)，待測(cè)元素殘留在原子化器中造成的積累干擾稱(chēng)為記憶效應(yīng)；

③石量管表面狀態(tài)改變，在使用過(guò)程中使其表面變得疏松多孔導(dǎo)致樣品流失和滲透，使擴(kuò)散損失增大；

④冷凝作用，石墨管溫度高而兩端低，當(dāng)原子化蒸氣從高溫區(qū)向低溫區(qū)遷移時(shí)可能發(fā)生原子蒸氣的冷凝。

     在無(wú)火焰原子吸收中消除物理干擾的方法有：采用自動(dòng)進(jìn)樣器以保證進(jìn)樣條件一致；為減少記憶效應(yīng)而提高原子化溫度和延長(zhǎng)原子化時(shí)間在一次測(cè)量之后用空燒或增加一步高溫清洗；采用涂層石墨管；為減小石墨爐產(chǎn)生的誤差要經(jīng)常校正，發(fā)現(xiàn)不適于定量時(shí)及時(shí)更換石墨管；為避免冷凝作用在緊貼原子化器的有限范圍內(nèi)測(cè)定，或采用氬氧混合氣作為載氣。

二、背景吸收干擾

    背景是一種非原子吸收現(xiàn)象，多數(shù)人認(rèn)為主要來(lái)自：

（1）光散射（微固體顆粒引起）火焰中的氣溶膠固體微粒存在，會(huì)使入射光發(fā)生散射，產(chǎn)生高于真實(shí)值的假吸收，使結(jié)果偏高。

（2）分子吸收分子吸收是指在原子化過(guò)程中生成的氣體分子、氧化物及鹽類(lèi)分子對(duì)輻第三射吸收而引起的干擾，包括火焰的成分，如OH、CH、NH、CO等分子基因吸收光源輻射；低溫火焰中常存在堿金屬和堿土金屬的鹵化物的吸收，如NaCl、KCl、CaCl2等雙原子分子在波長(zhǎng)小于300mm的紫外區(qū)有吸收帶；在高溫火焰中堿土金屬的氧化物或氫氧化物也會(huì)吸收輻射，如Ca(OH)2的吸收帶干擾鋇553.56nm的吸收峰。

    光散射是指在原子化過(guò)程中產(chǎn)生的固體微粒對(duì)光產(chǎn)生散射，使被散射的光偏離光路不為檢測(cè)器所檢測(cè)，導(dǎo)致吸光度值偏高。

    背景吸收除了波長(zhǎng)特征之外，還有時(shí)間、空間分布特征。分子吸收通常先于原子吸收信號(hào)之前產(chǎn)生，當(dāng)有快速響應(yīng)電路和記錄裝置時(shí)，可以從時(shí)間上分辨分子吸收和原子吸收信號(hào)。樣品蒸氣在石墨爐內(nèi)分布的不均勻性，導(dǎo)致了背景吸收空間分布的不均勻性。

    提高溫度使單位時(shí)間內(nèi)蒸發(fā)出的背景物的濃度增加，同時(shí)也使分子解離增加。這兩個(gè)因素共同制約著背景吸收。在恒溫爐中，提高溫度和升溫速率，使分子吸收明顯下降。在石墨爐原子吸收法中，背景吸收的影響比火焰原子吸收法嚴(yán)重，若不扣除背景，有時(shí)根本無(wú)法進(jìn)行測(cè)定。