摘要 SuperViewW納米級微觀三維形貌3D白光干涉儀主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。它能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 SuperViewW高精度納米量級白光干涉測量儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測。

摘要 中圖儀器白光干涉儀國產(chǎn)三維形貌儀SuperViewW是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 德國OWIS光學(xué)支架26.060.3803可用于所有方向手動(dòng)翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向右偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架26.045.2603提供優(yōu)異的穩(wěn)定性手動(dòng)翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向左偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架26.040.2603具有高精度的角度調(diào)整能力手動(dòng)翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向右偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架26.025.1303也可提供電動(dòng)版本手動(dòng)翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向左偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架26.020.1303可從任何方向插入手動(dòng)翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向右偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.110.0035適應(yīng)不同實(shí)驗(yàn)需求用于安裝直徑 35 毫米光學(xué)器件的支架

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.110.0030耐蝕性較差用于安裝直徑 30 毫米光學(xué)器件的支架

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.110.0025可提供其他直徑的夾頭用于安裝直徑 25 毫米光學(xué)器件的支架

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.110.0000廣泛應(yīng)用于光學(xué)實(shí)驗(yàn)室用于安裝光學(xué)器件的支架，帶中心孔和 M4 攻絲孔

摘要 德國OWIS光學(xué)支架26.065.3803適用于多種光學(xué)元件手動(dòng)翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向左偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架19.100.0076實(shí)現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)的校準(zhǔn)用于未安裝光學(xué)器件的光學(xué)器件支架 ø 75 mm / 76.2 mm (3“)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架16.202.0056夾緊直徑為56mmXY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個(gè)細(xì)牙螺釘，用于安裝光學(xué)元件 ø 56 mm

摘要 德國OWIS光學(xué)支架16.202.0045帶2個(gè)細(xì)牙螺釘XY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個(gè)細(xì)牙螺釘，用于安裝光學(xué)元件 ø 45 毫米

摘要 德國OWIS光學(xué)支架16.100.0050有效保護(hù)光學(xué)元件用于直徑 50 毫米/50.8 毫米（2 英寸）未安裝光學(xué)元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架16.100.0040方便地組裝和拆卸用于直徑 40 毫米/38.1 毫米（1.5 英寸）未安裝光學(xué)器件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.202.0026用于固定安裝的光學(xué)器件XY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個(gè)細(xì)牙螺釘，用于安裝光學(xué)器件 ø 25.4 mm (1“)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.202.0025可安裝在銷軸上XY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個(gè)細(xì)牙螺釘，用于安裝光學(xué)元件 ø 25 毫米

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.100.0032具有良好的穩(wěn)定性用于直徑 31.5 毫米未安裝光學(xué)元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.100.0025與SYS 40一起使用用于直徑 25 毫米/25.4 毫米（1 英寸）未安裝光學(xué)元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.100.0022黑色陽極氧化處理用于直徑 22.4 毫米未安裝光學(xué)元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 中圖儀器SuperViewW白光三維測量系統(tǒng)基于白光干涉原理，能以3D非接觸方式對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 中圖儀器SuperViewW1白光干涉膜厚儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸?？蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

摘要 SuperViewW1國產(chǎn)自研白光干涉三維形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

摘要 中圖儀器SuperViewW1納米級白光干涉儀是一款專用于超精密加工領(lǐng)域的光學(xué)檢測儀器，主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。

摘要 中圖儀器白光干涉儀廠家SuperViewW1可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。

摘要中圖儀器SuperViewW1光學(xué)三維表面形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量?？蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據(jù)ISO/ASME/E...

摘要SuperViewW1中圖光學(xué)3D表面輪廓儀器基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研...

摘要SuperViewW1白光干涉儀半導(dǎo)體測量儀器具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短，確保了高款率檢測。除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，...

摘要 SuperViewW系列3d白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)原理，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，是一款用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的納米級測量儀器。

摘要 SuperViewW1光學(xué)形貌輪廓儀測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣，是一款利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測量儀器。測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。其特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

摘要 SuperViewW1光學(xué)白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

摘要CHUO中央精機(jī)直線度測量機(jī)調(diào)直器TC-3 自準(zhǔn)直儀：LAC-DP-SA,LAC-SA,C-59L,C-60L,HAC- 1,LAC-MRB-S,LAC-MRA-S,LAC-AJB,LAC-TRA-S,LAC-POL-8,LAC-POL-12,LAC-PP,LAC-P...

摘要 SuperViewW1光學(xué)三維輪廓儀檢測儀器對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。

摘要 SuperViewW1三維白光輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測量。

摘要SuperViewW1白光干涉檢測儀設(shè)備載物臺尺寸為320*200mm（可定制），行程為140*110mm（可定制）；測量的Z向范圍可達(dá)10mm（2.5X鏡頭），Z向的精度可高達(dá)0.1nm?？蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗...

摘要3d光學(xué)干涉輪廓儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中，對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情...

摘要 數(shù)字色度儀用于測量溶解狀態(tài)的物質(zhì)所產(chǎn)生的顏色，儀器采用國家標(biāo)準(zhǔn)GB5750中所規(guī)定的鉑-鈷色度標(biāo)準(zhǔn)溶液進(jìn)行標(biāo)定，采用“度”作為色度計(jì)量單位。

摘要 數(shù)值孔徑是描述光學(xué)鏡頭工作性能的重要指標(biāo)，數(shù)值孔徑越大，鏡頭能夠分辨的兩點(diǎn)間距離也近。定制數(shù)值孔徑（NA）測量儀方案

摘要 色度儀廠商用于測量溶解狀態(tài)的物質(zhì)所產(chǎn)生的顏色，儀器采用國家標(biāo)準(zhǔn)GB5750中所規(guī)定的鉑-鈷色度標(biāo)準(zhǔn)溶液進(jìn)行標(biāo)定，采用“度”作為色度計(jì)量單位。

摘要 在線式分光測色儀穩(wěn)定的光源技術(shù)。非常適合于地毯、紡織品或者皮革高速生產(chǎn)中的*質(zhì)量控制，使產(chǎn)品在產(chǎn)線上面的偏差能夠在肉眼辨識之前檢測出來。實(shí)現(xiàn)在線顏色測量，在線色差測量。

摘要 在線分光測色儀應(yīng)用顯著特點(diǎn)是其創(chuàng)新的、穩(wěn)定的光源技術(shù)。非常適合于地毯、紡織品或者皮革高速生產(chǎn)中的*質(zhì)量控制，使產(chǎn)品在產(chǎn)線上面的偏差能夠在肉眼辨識之前檢測出來。

摘要多量程納米顯微成像系統(tǒng)高分辨率（XRM）SKYSCAN 2214 是布魯克推出的新納米斷層掃描系統(tǒng)，是顯微 CT 技術(shù)領(lǐng)域的，在為用戶帶來了終級分辨率的同時(shí),提供非常好的用戶體驗(yàn)。SKYSCAN 2214 的每個(gè)組件都融入的新的技術(shù)，使其成為當(dāng)今市場上性能很強(qiáng)、適用性...