摘要 GenterMax navigator三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)寬溫精度（TVA）測(cè)量機(jī)的精度通常僅于特定的溫度下才可滿足但CenterMax與眾不同——借助于TVA計(jì)算公式，可提供不同溫度范圍下的精度

摘要 GageMax navigator三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)優(yōu)異的溫度穩(wěn)定性，從+15ºC至+40ºC 結(jié)構(gòu)緊湊，測(cè)量范圍大 支持叉車搬運(yùn) 主軸采用具有出色熱穩(wěn)定性的碳纖材料 配備4個(gè)庫(kù)位的探針更換架

摘要 ZEISS ACCURA三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)由于采用模塊式設(shè)計(jì)理念，ACCURA足以勝任未來(lái)的測(cè)量需求。它能根據(jù)您對(duì)測(cè)量設(shè)備、探頭和軟件的需求不斷成長(zhǎng)。ACCURA針對(duì)接觸式和光學(xué)式探頭以及掃描模塊預(yù)設(shè)線纜，因而可立即配備多探頭運(yùn)行。

摘要 ZEISS SPECTRUM三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)SPECTRUM II升級(jí)，讓測(cè)量結(jié)果更可靠、掃描型SPECTRUM是一款配有蔡司機(jī)器、掃描探頭和軟件技術(shù)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。

摘要 ZEISS PRISMO三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)navigator技術(shù)是為蔡司所研發(fā)的高速高精度掃描技術(shù)。智能優(yōu)化參數(shù)設(shè)定以確保測(cè)量的精準(zhǔn)度。得益于切線逼近掃描、螺旋掃描和測(cè)針快速動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)等功能，可進(jìn)一步縮短測(cè)量時(shí)間。

摘要 ZEISS CONTURA三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)CONTURA可配備固定型被動(dòng)式探頭、靈活的蔡司RDS關(guān)節(jié)式探頭座或主動(dòng)式掃描測(cè)針。各類探頭均具有掃描功能。主動(dòng)式探頭采用蔡司navigator技術(shù)——高速測(cè)量唾手可得。

摘要 ZEISS MICURA三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)它尤其適于測(cè)量用于光學(xué)和電子產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)復(fù)雜的小型工件。盡管采用緊湊型設(shè)計(jì)，系統(tǒng)卻具備500 x 500 x 500毫米的測(cè)量能力——性能穩(wěn)定的產(chǎn)品。

摘要 ZEISS XENOS三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)XENOS采用了機(jī)械設(shè)計(jì)理念。與標(biāo)準(zhǔn)橋式測(cè)量機(jī)不同：Y導(dǎo)軌分布于側(cè)壁頂部，分離式移動(dòng)行程軸僅橫梁于Y軸方向移動(dòng)，更小及恒定的移動(dòng)重量與移動(dòng)式平臺(tái)相比堪稱真正的優(yōu)勢(shì).

摘要 LUXURY系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)單邊高架移動(dòng)橋式結(jié)構(gòu)，不僅使Y軸運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌及驅(qū)動(dòng)軸線更接近于橋梁，而且減小了運(yùn)動(dòng)橋的質(zhì)量，在高立柱、大跨度橫梁的條件下，能使快速測(cè)量運(yùn)動(dòng)中的角擺、垂直度變形達(dá)到**小化，確保了大型測(cè)量機(jī)的高精度。

摘要 CLASSIC系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采用*的有限元分析技術(shù)設(shè)計(jì)，運(yùn)用“精密斜梁設(shè)計(jì)技術(shù)”，使橫梁重量輕、重心低、剛性強(qiáng)，幾何精度高、運(yùn)動(dòng)平穩(wěn)。

摘要 MAGI系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采用封閉框架固定橋式結(jié)構(gòu)，三軸運(yùn)動(dòng)相互獨(dú)立，互不干擾。Y軸運(yùn)動(dòng)由具有雙燕尾導(dǎo)軌的工作臺(tái)移動(dòng)完成，降低了運(yùn)動(dòng)重心，具有*穩(wěn)定性和測(cè)量精度。

摘要 FASHION系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采用*的有限元分析技術(shù)設(shè)計(jì)，利用剛性強(qiáng)、質(zhì)量輕、低重心的全封閉框架移動(dòng)橋式結(jié)構(gòu)，大幅降低了Y軸運(yùn)動(dòng)中的橫梁扭擺現(xiàn)象，確保了三軸運(yùn)動(dòng)精度的穩(wěn)定性。

摘要 SJ6000激光干涉儀激光干涉儀是以光波為載體，以光波波長(zhǎng)為單位的一種計(jì)量測(cè)試方法，是*的高精度、高靈敏度的檢測(cè)手段，在制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。

摘要 SJ200系列高度計(jì)是是針對(duì)眾多工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域及檢測(cè)機(jī)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)的大量程、高精度的測(cè)量設(shè)備。本儀器采用高精度進(jìn)口光柵作為測(cè)量基準(zhǔn)，遵循阿貝原則，按照機(jī)械穩(wěn)定性和熱穩(wěn)定性的原則設(shè)計(jì)而成，因此具有測(cè)量精度高、性能穩(wěn)定、重復(fù)性好等特點(diǎn)。

摘要 剪切干涉儀同時(shí)，通過(guò)判讀干涉條紋的形狀可以分析原始波面的波差分布。 因此，這既是激光束準(zhǔn)直檢測(cè)儀，又是定性化的光束波前分析儀。

摘要 G30D倒立式激光干涉儀主要用途： 球面類光學(xué)元件（包括各類玻璃、塑料透鏡、球面反射鏡、光圈量規(guī)、球面軸承等） 表面光圈、局部形變的測(cè)量。平面類光學(xué)元件（平面鏡、水晶、陶瓷、標(biāo)準(zhǔn)量塊等）的表面光圈的 測(cè)量。

摘要 G30U正立式激光干涉儀球面類光學(xué)元件（包括各類玻璃、塑料透鏡、球面反射鏡、光圈量規(guī)、球面軸承等）表面光圈、局部形變的測(cè)量，球面曲率半徑的測(cè)量（配合光柵尺）。平面類光學(xué)元件（平面鏡、水晶、陶瓷、標(biāo)準(zhǔn)量塊等）的表面光圈。

摘要 G60D倒立式激光干涉儀球面曲率半徑的測(cè)量（配合光柵尺）。平面類光學(xué)元件（平面鏡、水晶、 陶瓷、標(biāo)準(zhǔn)量塊等）的表面光圈的測(cè)量。

摘要 G60U正立式激光干涉儀選配標(biāo)準(zhǔn) 鏡頭有F0.6，F(xiàn)1.0，F(xiàn)1.4，F(xiàn)1.5，F(xiàn)2.0，F(xiàn)2.8，F(xiàn)3.3，F(xiàn)4.5，F(xiàn)5.6，F(xiàn)8.0，F(xiàn)8D，F(xiàn)13和平面鏡頭等， 可定制其他F數(shù)的鏡頭。

摘要 G100和G150臥式激光干涉儀將高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng)，穩(wěn)定的激光干涉技術(shù)和1-6.7倍圖像放大功能等一系列 高精技術(shù)融合，滿足科研級(jí)高精密光學(xué)元件和光學(xué)系統(tǒng)的測(cè)量的要求。

摘要 G100D和G150D立式激光干涉儀使大口徑球面干涉儀即適用于光學(xué)實(shí)驗(yàn)室的精密測(cè)量，又適用于光學(xué)車間的大批量檢 驗(yàn)。高精度和成本優(yōu)勢(shì)，有利于客戶提高產(chǎn)品品質(zhì)，同時(shí)節(jié)省成本。

摘要 G200M，G150M和G150S立式平面干涉儀適用于計(jì)量機(jī)構(gòu)檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶。其集 高性能、長(zhǎng)壽命氦氖激光器，1-6.7倍圖像放大功能，高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng)，精密平面 標(biāo)準(zhǔn)鏡等一系列高精技術(shù)，通過(guò)優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)高精密平面光學(xué)元件的測(cè)量。

摘要 300mm激光干涉儀球面類光學(xué)元件（包括各類玻璃、塑料透鏡、球面反射鏡、光 圈量規(guī)、球面軸承等）表面光圈、局部形變的測(cè)量，球面曲率半徑的測(cè)量（配合光柵尺）。平面類 光學(xué)元件（平面鏡、水晶、陶瓷、標(biāo)準(zhǔn)量塊等）的表面光圈的測(cè)量。

摘要 G5U-PH 激光干涉儀尤其是攝像孔邊緣區(qū)域（貼近弧邊）的干涉條紋會(huì)非常密集，超出上一代產(chǎn)品G10U-PH激光干涉儀（及行業(yè)內(nèi)主流的與G10相當(dāng)?shù)漠a(chǎn)品）的分辨極限，導(dǎo)致無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量。

摘要 G30HD激光干涉儀為多攝像孔檢測(cè)而定制，具備大視場(chǎng)、高分辨率的性能?？梢酝瑫r(shí)完成雙孔、三孔或四孔的透過(guò)波前檢測(cè)

摘要 三維云紋干涉儀光路中置有PZT壓電晶體，通過(guò)驅(qū)動(dòng)電源控制和驅(qū)動(dòng)壓電晶體和反射鏡來(lái)實(shí)現(xiàn)相移技術(shù)，相移技術(shù)可以使測(cè)量靈敏度提高一個(gè)量級(jí)，儀器還附有加載系統(tǒng)及調(diào)節(jié)座；配以高溫爐可進(jìn)行熱變形測(cè)量。

摘要 相移剪切電子散斑干涉儀該儀器使用大功率綠色半導(dǎo)體激光器作光源，具有電子散斑條紋實(shí)時(shí)處理軟件，操作方便，便于攜帶，可用于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。采用相移技術(shù)分析條紋，可獲得離面位移導(dǎo)數(shù)場(chǎng)的全場(chǎng)數(shù)據(jù)。

摘要 一維面內(nèi)位移相移電子散斑干涉儀它舍棄了傳統(tǒng)的拍攝沖印照片復(fù)雜的濕處理過(guò)程，而直接依靠光學(xué)成像系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)圖像采集處理系統(tǒng)獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運(yùn)用。用于解決工程中的強(qiáng)度和剛度問(wèn)題，并可用于殘余應(yīng)力測(cè)量。

摘要 一維離面位移相移電子散斑干涉儀能實(shí)時(shí)觀察代表離面位移的干涉條紋，配以穩(wěn)定的三點(diǎn)彎曲梁加載實(shí)驗(yàn)裝置和圓盤受均布載荷（氣壓）或集中力實(shí)驗(yàn)裝置，使得整個(gè)系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，易于調(diào)節(jié)，可以獲得很好的教學(xué)效果。

摘要 三維相移電子散斑干涉儀它直接依靠激光干涉和計(jì)算機(jī)圖像采集處理系統(tǒng)獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運(yùn)用，可用于解決工程中的強(qiáng)度和剛度問(wèn)題，并可用于殘余應(yīng)力測(cè)量。

摘要 RPS計(jì)量 EVO 7是根據(jù)新技術(shù)研制的新一代關(guān)節(jié)臂測(cè)量機(jī)。此款便攜式關(guān)節(jié)臂測(cè)量機(jī)，可以直接在車間進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的3D掃描測(cè)量。

摘要原裝尼康高度計(jì)MF-1001+MFC-101+MS-11CMF-1001Nikon高度計(jì)應(yīng)用范圍：NIKON尼康高度規(guī)MF-1001MFC-101MS-11C，Nikon高度規(guī)已推出由行程15mm至100mm的測(cè)高計(jì)Digimicro，精準(zhǔn)度在0.7um至1um內(nèi)，可...

摘要日本三豐Mitutoyo數(shù)顯萬(wàn)分尺293-100?日本三豐293-100高精度數(shù)顯千分尺分辨力為 0.1µm，是需要用手持式工具進(jìn)行高精度測(cè)量顧客的理想選擇。? 高精度的數(shù)顯千分尺，采用日本三豐公司**的 0.1µm 分辨力 ABS （優(yōu)良式） 旋...

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷Walter3D光學(xué)坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 系列產(chǎn)品型號(hào)：Helicheck Basic 3

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷Walter3D光學(xué)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)系列產(chǎn)品型號(hào)：Helicheck Basic 3

摘要SPECTRUM技術(shù)性能描述卡爾 · 蔡司Carl Zeiss成立于1846年，是世界的光學(xué)產(chǎn)品制造公司，蔡司自1973年制造出*CNC三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)UMM500以來(lái)，每年都不斷開發(fā)新技術(shù)，從而使蔡司測(cè)量技術(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn) 超 越其他公司。其中SPECTRUM系列的...

摘要API三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)··GALAXY H關(guān)鍵字描述：產(chǎn)品介紹：緊湊、高效、快速GALAXY H是一款手動(dòng)控制的水平臂三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) (CMM)，適用于普通車間測(cè)量和劃線應(yīng)用。該款測(cè)量機(jī)可使用單臂、雙臂或多臂配置，是一種經(jīng)濟(jì)高效的測(cè)繪解決方案。兼容探測(cè)系...

摘要 API三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)·GALAXY H關(guān)鍵字描述：產(chǎn)品介紹：緊湊、高效、快速GALAXY H是一款手動(dòng)控制的水平臂三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) (CMM)，適用于普通車間測(cè)量和劃線應(yīng)用。該款測(cè)量機(jī)可使用單臂、雙臂或多臂配置，是一種經(jīng)濟(jì)高效的測(cè)繪解決方案。

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷德國(guó)aixACCT激光干涉儀TF 3000 主要型號(hào)：TF 3000、TF 2000 E、TF 1000

摘要天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷德國(guó)aixACCT激光干涉儀TF 3000品牌介紹：aixACCT是您在材料開發(fā)和設(shè)備鑒定方面進(jìn)行電氣測(cè)試的合作伙伴，并通過(guò)提供新的測(cè)試概念和系統(tǒng)解決方案縮短了客戶新產(chǎn)品的上市時(shí)間。產(chǎn)品通過(guò)不斷創(chuàng)新，涵蓋從材料研究到原型測(cè)試以及生產(chǎn)過(guò)程...

摘要 蔡司高分辨率工業(yè)CT系統(tǒng)METROTOM 6 scout（GOM CT）以精細(xì)的細(xì)節(jié)數(shù)字化復(fù)雜零件，包括內(nèi)部幾何形狀。您將獲得用于GD&T分析或名義實(shí)際比較的完整3D圖像。計(jì)量工業(yè)CT擅長(zhǎng)數(shù)字化小型塑料零件。

摘要 德國(guó)進(jìn)口工業(yè)CT斷層掃描儀可以進(jìn)行工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)測(cè)量，三維成像，數(shù)模比對(duì)，逆向重塑，斷層掃描，探傷孔隙率檢測(cè)等應(yīng)用非常廣泛，功能很是強(qiáng)大，而蔡司X射線顯微鏡除了這些功能外，更添加了顯微鏡功能，精度更高。

摘要 手動(dòng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)Crysta－Plus M544／574開發(fā)的手動(dòng)氣浮型三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，追求高精度、低成本且簡(jiǎn)易的操作。Crysta-Plus M 系列應(yīng)用范圍廣，適于從簡(jiǎn)單的尺寸測(cè)量到復(fù)雜形態(tài)的大范圍測(cè)量。

摘要 手動(dòng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)開發(fā)的手動(dòng)氣浮型三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，追求高精度、低成本且簡(jiǎn)易的操作。Crysta-Plus M 系列應(yīng)用范圍廣，適于從簡(jiǎn)單的尺寸測(cè)量到復(fù)雜形態(tài)的大范圍測(cè)量。

摘要 超高精度CNC三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)LEGEX12128采用FEM結(jié)構(gòu)分析模擬的*測(cè)試保證了幾何運(yùn)動(dòng)精度，使負(fù)荷及其它變量波動(dòng)造成的誤差降至小。另外，其他多種技術(shù)如抗振測(cè)量等用于驅(qū)動(dòng)單元結(jié)構(gòu)中，實(shí)現(xiàn)了超高精度。