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ENJ3020 大功率IGBT靜態(tài)測試系統(tǒng)-半導體檢測儀器

參考價
200.00
具體成交價以合同協(xié)議為準
規(guī)格
  • 1V~10KV200.00元99 件 可售
  • 型號ENJ3020
  • 品牌其他品牌
  • 所在地西安市
  • 更新時間2023-11-10
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 所在地區(qū)西安市
  • 實名認證已認證
  • 產(chǎn)品數(shù)量32
  • 人氣值6899
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公司簡介:西安天光測控技術(shù)有限公司 是一家專業(yè)從事 半導體功率器件測試設備 研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的*。產(chǎn)品有半導體分立器件測試篩選系統(tǒng)。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的電參數(shù)及可靠性和老化測試。靜態(tài)單脈沖(包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù))動態(tài)雙脈沖(包括Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg)Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。環(huán)境老化測試(包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等)熱特性測試(包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等)各類全系列測試設備。廣泛應用于半導體器件上游產(chǎn)業(yè)(設計、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板)和下游產(chǎn)業(yè)(院所高校、電子廠、軌道機車、新能源汽車、白色家電等元器件的應用端產(chǎn)業(yè)鏈)




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產(chǎn)地國產(chǎn) 加工定制
美國 ITC替代品 大功率IGBT靜態(tài)測試系統(tǒng)
系統(tǒng)適合工廠、研究所用做IGBT及其模塊的篩選、檢驗、分析以及器件生產(chǎn)廠用做生產(chǎn)測試,是一款針對IGBT的各種靜態(tài)參數(shù)而研制的智能測試系統(tǒng)
大功率IGBT靜態(tài)測試系統(tǒng)-半導體檢測儀器 產(chǎn)品詳情

產(chǎn)品系列
晶體管圖示儀

半導體分立器件測試篩選系統(tǒng)

靜態(tài)參數(shù)測試(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)

動態(tài)參數(shù)測試(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)

環(huán)境老化測試(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)

熱特性測試(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)

可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件

歡迎垂詢:Tel:173 -4295 -2894


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美國 ITC替代品 大功率IGBT靜態(tài)測試系統(tǒng)

(ENJ3020 IGBT靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng))

一、大功率IGBT靜態(tài)測試系統(tǒng)概述

ENJ—3020測試系統(tǒng)(以下簡稱系統(tǒng))是西安天光測控技術(shù)有限公司推出的IGBT靜態(tài)測試系統(tǒng),該系統(tǒng)符合國家標GJB128-86和國家標準GB/T 4587-94測試規(guī)范。

系統(tǒng)適合工廠、研究所用做IGBT及其模塊的篩選、檢驗、分析以及器件生產(chǎn)廠用做生產(chǎn)測試,是一款針對IGBT的各種靜態(tài)參數(shù)而研制的智能測試系統(tǒng)。

系統(tǒng)標準功率源為3500V/200A,電流可擴展至2000A。

系統(tǒng)的自動化程度高,按照操作人員設定的程序自動工作,實現(xiàn)全自動化的智能測試,計算機記錄測試結(jié)果,測試結(jié)果可轉(zhuǎn)化為文本或 EXCEL 格式存儲。測試方法靈活,可*測試器件以及單個單元和多單元的模塊測試。

系統(tǒng)采用品牌工控機,具有抗電磁*力強,排風量大等特點

系統(tǒng)安全穩(wěn)定,PLC 對設備的工作狀態(tài)進行全程實時監(jiān)控并與硬件進行互鎖。


天光測控ENJ—3020測試系統(tǒng)中控制系統(tǒng)主要由計算機控制系統(tǒng)和PLC控制系統(tǒng)組成

計算機控制系統(tǒng)

計算機控制系統(tǒng)是該測試設備的中心控制單元,設備有一部分的工作程序、工作時序、開關的動作狀態(tài),數(shù)據(jù)采集等均由計算機完成。計算機

采用研華工業(yè)控制機,具有抗電磁*力強,排風量大等特點。

計算機中,裝有美國國家儀器公司生產(chǎn)的數(shù)據(jù)采集卡NI PCI6221卡2塊,NI PCI6221是一塊多功能的數(shù)據(jù)采集卡,具有三組數(shù)據(jù)端口,16/8個

模擬量輸入端口,兩個模擬量輸出口、兩個定時器計數(shù)器。

PLC控制系統(tǒng)              

控制系統(tǒng)除工控機外,還采用了歐姆龍系列的PLC,PLC主要對設備的工作時序、開關動作等進行控制,并且與計算機進行通訊,完成了整個系

統(tǒng)的自動控制功能;PLC不僅控制開關的動作,而且對系統(tǒng)中主要開關的工作狀態(tài)進行實時監(jiān)控,并與硬件進行互鎖,實現(xiàn)了可靠的安全控制功能。

系統(tǒng)特征

針對IGBT的各種靜態(tài)參數(shù)而研制的智能測試系統(tǒng)

大功率(IV可擴展至4500A,6000V

自動化程度高(按照操作人員設定的程序自動工作)

計算機記錄測試結(jié)果,測試結(jié)果可轉(zhuǎn)化文本或EXECL格式存儲

采用品牌工控機,具有抗電磁*力強,排風量大等特點

測試方法靈活(可*測試器件以及單個和多單元的模塊測試)

安全穩(wěn)定(PLC對設備的工作狀態(tài)進行全程實時監(jiān)測并與硬件進行互鎖)

二、大功率IGBT靜態(tài)測試系統(tǒng)測試范圍

天光測控ENJ—3020系統(tǒng)是專為測試IGBT而設計。能夠真實準確測試出IGBT的各種靜態(tài)參數(shù):其測試范圍如下:

1)柵極-發(fā)射極漏電流測試VGES、IGES

2)柵極-發(fā)射極閾值電壓測試Vge(th)

3)集電極-發(fā)射極電壓測試測試VCES、ICES

4)集電極-發(fā)射極飽和電壓測試測試Vge(sat)、IC

5)二極管壓降測試測試VF、IF

6)二極管反向可恢復直流電壓測試VR、IR

外形尺寸和電源要求

尺  寸:800×800×1800(mm)

質(zhì)  量:210kg

環(huán)境溫度:15~40℃

工作電壓:AC220V±10%無嚴重諧波

電網(wǎng)頻率:50Hz±1Hz

通信接口: USB RS232

系統(tǒng)功耗: 380W

參數(shù)/條件

參數(shù)/條件







參  數(shù)



ENJ 35200 IGBT

ENJ 30200 IGBT




靜態(tài)參數(shù)自動測試系統(tǒng)

靜態(tài)參數(shù)手動測試系統(tǒng)


條  件



柵極-發(fā)射極漏電流IGES






IGES: 0.1-10uA±3%±0.1uA






集電極電壓VCE: 0V






柵 極 電 壓 VGE: 20V ±3%±0.2V






集電極-發(fā)射極電壓BVCES






集電極電壓VCES: 100-3500V±5%±10V(選配)






集電極電流ICES: 0.1-30mA±5%±0.01mA


100-3500V±5%±10V

100-3000V±5%±10V

柵   極 電 壓 VGE: 0V






集電極發(fā)射極飽和電壓VCESAT






VCESAT:0.1-10V






柵極電壓 V G E : ±15V±2%±0.2V






集電極電流ICE: 10-200A±5%(選配)



10-200A±5%

10-200A±5%

集電極-發(fā)射極截止電流ICES






集電極電流ICES: 0.1-30mA±5%±0.01mA



100-3500V±5%

100-3000V±5%

集電極電壓VCE: 100-3500V±5%(選配)






柵 極 電 壓V G E : 0V






柵極-發(fā)射極閥值電壓測試VGETH






VGETH: 0.1-10V±3%±0.1V






VGE=VCE






集電極電流ICE: 30mA±3%






二極管壓降測試VF






VF: 0.1-5V±3%±0.01V






柵極電壓VGE: 0V






流    I F : 10-200A±5%(選配)



10-200A±5%

10-200A±5%

導通電流    IC: 10-200A±5%






柵極電壓VGE:±15V±0.2V






歡迎垂詢:Tel:173 -4295 -2894












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