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儀表網(wǎng)>全部分類 >專用儀表 >其它行業(yè) >電子檢測儀器/半導體檢測儀器 更新時間:2025-07-30 返回產(chǎn)品中心
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    WD4000晶圓THK膜厚厚度測量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像,實現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TTV)及分析反映表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)。
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    SPA6100型IGBT單管參數(shù)分析儀iv+cv一鍵測配置有多種不同規(guī)格的SMU,如低壓直流SMU、低壓脈沖SMU、大電流SMU;用戶可根據(jù)測試需求靈活配置不同規(guī)格,以及不同數(shù)量的搭配。全“芯”新品!SPA6100半導體參數(shù)分析儀,1200V/100A,一鍵執(zhí)行測試,超搞性價比!模塊化集成設(shè)計,配置多種不同規(guī)格的SMU,可同時進行直流I-V、超快脈沖式I-V、C-V 測試,幫助你實現(xiàn)測試效率與開
  • P系列國產(chǎn)品牌高精度源表

    P系列國產(chǎn)品牌高精度源表分辨率1pA是在直流源表上的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能。最大輸出電壓達300V,最大脈沖輸出電流達30A,支持四象限工作
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    普賽斯DC電壓電流源表iv曲線儀更大直流,更高精度,科研實驗幣備源表,標準的SCPI指令集,上位機軟件功能豐富,半導體測試領(lǐng)域的經(jīng)典產(chǎn)品!
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