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公司介紹主營產(chǎn)品

沈陽佳士科商貿(mào)有限公司是JASCO日本分光株式會社在中國地區(qū)的辦事處。設立于2015年，主要負責JASCO日本分光株式會社制分析儀器在中國區(qū)域銷售及相關事務，儀器主要包括，光譜儀：傅立葉變換紅外光譜儀FT/IR，激光拉曼光譜儀Raman，紫外/可見/近紅外分光光度計UV-Vis/NIR，圓二色光譜儀CD，熒光光譜儀FP，全自動數(shù)字旋光儀等，色譜儀：超高壓液相色譜儀X-LC,高效液相色譜儀HPLC，超臨界萃取/色譜儀SFE/SFC，實驗室管理，試劑耗材等。公司致力于為客戶提供專業(yè)的實驗室整體解決方案，覆蓋分子生物學、細胞生物學、生物工藝、微生物學、材料科學、等領域?？蛻艉w政府檢驗檢疫、藥檢、質檢、疾控中心、大型企業(yè)、研究部門、醫(yī)院、高校、等?！　」炯夹g團隊擁有良好經(jīng)驗的高學歷人員組成；銷售團隊由一批畢業(yè)于各高等院校或從事過實驗室工作的、有著良好行業(yè)經(jīng)驗的人員組成；售后服務團隊由經(jīng)過廠家嚴格專業(yè)培訓并有多年維修服務經(jīng)驗的維修工程師組成?！　”?為客戶提供專業(yè)、周到的服務，一切以客戶為依歸"的宗旨，也本著取之于社會回饋于社會的精神，為各行業(yè)提供更豐富、更專業(yè)、更完善的服務。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

橢圓計（膜厚測定多層膜解析光弾性測定）　M-series

橢圓計（膜厚測定多層膜解析光弾性測定）　M-series 產(chǎn)品詳情

橢圓率計 （測量膜厚 多層膜解析 測量光彈性）　M-series

▼概要
日日本分光制的橢圓計配有日本分光產(chǎn)的PEM雙重鎖定方式和光伺服?光參考方式，實現(xiàn)高速性和高安定性。由于偏光素子的軸配置適合特別薄的膜和微小的偏光測量，所以主要用于向高集積化和高精細化發(fā)展的半導體及高機能光學薄膜等材料的評價。
◆規(guī)格
▼M-210/220/230/240/550/ELC-300

型號	M-210	M-220	M-230	M-240	M-550	ELC-300
測量方法	PEM雙重鎖定方式、光伺服/光參照控制方式
分光器	-	雙單色器自動波長驅動裝置		雙單色器（260～900nm）單單色器（900～1700nm）自動波長驅動裝置	單單色器自動波長驅動裝置	雙單色器自動波長驅動裝置
測量波長	He-Ne激光 (632.8nm)	He-Ne激光(632.8nm) Xe光源 (260～860nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (240～700nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (26～900nm) 鹵素燈 (900～1700nm)	Xe光源 (350～800nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (260～860nm)
入射角范圍	40゜～ 90゜連續(xù)自動設定（0.01゜間隔）				45゜～ 90゜連續(xù)自動設定（0.01゜間隔）	40゜～ 90゜連續(xù)自動設定（0.01゜間隔）
膜厚測量范圍	0～99999?
測量時間	1msec以上					20μsec～16sec
測量準確度^*	屈折率　±0.01
	膜厚　±1?
	消衰係數(shù)　±0.01
	*準確度是指測量時間100msec以上。另外、根據(jù)表面狀態(tài)、膜質不同準確度也不同。
樣品室	樣品垂直放				樣品水平放	樣品垂直放
檢測器	檢光子（Glan-Taylor棱鏡）紫外可見區(qū)域：光電子倍増管　近紅外區(qū)域：InGaAs-PIN光電二極管（M-240）

▼軟件

主機標準

1.時間變化測量
2.膜厚測量
3.Δ-Ψ模擬
4.光譜測量?解析^*1
5.誘電率計算^*1
6.反射率計算^*1
*1 M-210型號不是分光型不可使用

選項程序

1. 映射測量（自動X-θ帶映射臺）
2.多層膜解析^*2
3.多入射角測量
4.靈敏度模擬^*2
5.波長Cauchy光譜^*3
6.橢圓率測量?解析、測量波長固定復屈折（帶異方性解析臺）^*3
7.測量3次元屈折率（需要異方性解析臺）^*3
8.測量光弾性定數(shù)（帶光弾性測量用透過臺）^*3
*2 M-210不是分光型的不能使用
*3 M-550不能測量透過不能使用。

◆規(guī)格
▼M-210/220/230/240/550/ELC-300

型號	M-210	M-220	M-230	M-240	M-550	ELC-300
測量方法	PEM雙重鎖定方式、光伺服/光參照控制方式
分光器	-	雙單色器自動波長驅動裝置		雙單色器（260～900nm）單單色器（900～1700nm）自動波長驅動裝置	單單色器自動波長驅動裝置	雙單色器自動波長驅動裝置
測量波長	He-Ne激光 (632.8nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (260～860nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (240～700nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (26～900nm) 鹵素燈 (900～1700nm)	Xe光源 (350～800nm)	He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (260～860nm)
入射　角范圍	40゜～ 90゜連續(xù)自動設定（0.01゜間隔）				45゜～ 90゜連續(xù)自動設定（0.01゜間隔）	40゜～ 90゜連續(xù)自動設定（0.01゜間隔）
膜厚測量范圍	0～99999?
測量時間	1msec以上					20μsec～16sec
測量準確度^*	屈折率　±0.01
	膜厚　±1?
	消衰係數(shù)　±0.01
	準確度是指測量時間100msec以上。另外、根據(jù)表面狀態(tài)、膜質不同準確度也不同*。
樣品室	樣品垂直放				樣品水平放	樣品垂直放
檢測器	檢光子（Glan-Taylor棱鏡）紫外可見區(qū)域：光電子倍増管　近紅外區(qū)域：InGaAs-PIN光電二極管（M-240）

▼軟件

主機標準

1.時間變化測量
2.膜厚測量
3.Δ-Ψ模擬
4.光譜測量?解析^*1
5.誘電率計算^*1
6.反射率計算^*1
*1 M-210型號不是分光型不可使用

選項程序

關鍵詞：光電二極管標準

熱門產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱	參考價	地區(qū)	公司名稱	更新時間
艾德克斯ITECH 微功耗量測以及材料研究精密源表 IT2805 200V1.5A20W	面議	深圳市	深圳市賽儀歐電子有限公司	2025-03-04	在線詢價
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