反射率測量裝置

概況
自動反射率測量裝置一邊變化照到樣品的入射角，一邊測量反射率以及透過。 用于太陽能電池零件，半導(dǎo)體，薄膜，光學元件等各種固體樣品的分光特性或者膜厚等的測量。 入射角通過旋轉(zhuǎn)樣品臺設(shè)定，受光角通過滑動積分球控制。另外，能用非同步方式分別設(shè)定入射角和受光角。而且，根據(jù)任意設(shè)定P偏光和S偏光角度，能研究樣品的偏光特性。
可選擇用在緊湊的中型機種V-600系列紫外可見近紅外分光光度計上，也可以選擇用在適合高分辨率，高吸光度測量的V-7000系列紫外可見近紅外分光光度計上。

◆裝置特點
? PC直接控制設(shè)定角度及光譜測量等條件
? 測量范圍廣，從紫外到近紅外區(qū)域
? 雙光束光學系統(tǒng)，測光穩(wěn)定性好
? 可分別控制入射角、受光角
? 標配偏光測量功能
? 專用的樣品池支架，樣品的裝卸簡單
◆樣品室以及測量機構(gòu)
自動反射率測量組件由電腦控制樣品臺和檢測部分、自動測量入射角和受光角的變角。可以連續(xù)測量數(shù)次的入射?受光角的反射率光譜。可以測量透過和反射、可以在同一裝置測量透過率和反射率。

◆測量槽型濾波器
自動反射率測量組件標準軟件的間隔數(shù)據(jù)解析程序可以3次元表示波長、測光值以及角度。 下圖為3次元表示槽型濾波器的光譜數(shù)據(jù)。 入射角的不同峰值的位移和峰值強度變化一目了然。


◆規(guī)格
▼ARMV-734/ARMN-735　自動反射率測量組件（V-600用）

型號 ARMV-734 ARMN-735 測定波長范圍 250～850nm 250～2000nm 測量方式 測量反射率、測量透過率 入射角 5°～ 60°(測量反射率）、0°～ 60°(測量透過) 0　～　85℃（大入射角樣品支架、選項) 角度間隔 0.1°間隔 設(shè)定方式 同期、非同期（入射部和受光部） 測量偏光 S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)、任意設(shè)定

※ARMV-734用于V-650,660、ARMN-735用于V-670。
▼VAR-7010/7020/7030　自動反射率測量組件（V-7000用）

型號 VAR-7010 VAR-7020 VAR-7030 測量波長范圍 250～900nm 250～2000nm 250～1800nm 測定方式 測量反射率、測量透過率 入射角 5°～ 60°(測量反射率）、0°～ 60°(測量透過) 0　～　85℃（大入射角樣品支架、選項) 角度間隔 0.1°間隔 設(shè)定方式 同期、非同期（入射部和受光部） 測量偏光 S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)

※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。