BKZEM-3電阻率/溫差電動勢測試系統(tǒng)

關鍵詞：塞貝克系數(shù)，半導體，熱電材料

BKZEM-3電阻率/溫差電動勢測試系統(tǒng)可用于對于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

熱力發(fā)電是一種通過熱電效應材料產生電力的方法，由J.T.Seebeck德國物理學家在1821年發(fā)現(xiàn)的。面對當前的由二氧化碳排放以及化學材料消耗而導致的溫室效應，熱電轉變器件引起了注意，因為可以有效利用余熱。為了迎合這種急迫的需求公司為這些材料和器件開發(fā)了特性評估裝置。

+  擁有溫度精確控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；

+  測量是由計算機控制的，并且能夠在z定的溫度下執(zhí)行測量，并允許自動測量消除背底電動勢；

+  歐姆接觸自動檢測功能（V-I圖）；

+  可以用適配器來測量薄膜；

+  可定制高阻型。

測試原理：

樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度，同時將樣品加熱并保持在規(guī)定的溫度。塞貝克系數(shù)的測量是通過測量壓在樣品側面的熱電偶上的上部和下部T1，T2與熱電偶一側的同一股線之間的熱電動勢dE來確定的。
電阻測量采用直流四端法，通過在樣品兩端施加恒定電流I，測量熱電偶同一元件線之間的電壓降dV，并去除引線之間的熱電動勢來確定。

電阻測量系統(tǒng)可實現(xiàn)對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的特點，塞貝克系數(shù)（seebeck）和電阻都可以用一種儀器來測量。該系統(tǒng)可用于對于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

主要技術參數(shù)：

溫度范圍：  室溫-600℃，800℃ ，1000℃多種范圍可選擇

溫度設定范圍:測溫步數(shù)和溫度采樣測量步數(shù)：z大125步

測量方法 :溫差電動勢：靜態(tài)直流法

電阻率：四電極法

氣氛: 氬氣或氮氣

樣品尺寸:2~4 mm正方形或直徑2~4 mm，長6~22 mm（Z大）

導線間距:4，6，8 mm

電源供應:200 VAC，單相，40 A（M8，M10規(guī)格）

100 VAC，單相，20 A（L規(guī)格，M8和M10規(guī)格）

冷卻水需求:自來水,水壓大于1.5 kgf/cm²,流量大于7 L/min

樣品溫差：MAX.50℃ 

測量方式：電腦全自動測量