HTIM-300型高低溫材料電阻率測試儀
HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評(píng)估和測試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線。目前主要針對(duì)圓片、方塊、長條等測試樣品進(jìn)行測試，可以廣泛用于半導(dǎo)體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導(dǎo)體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導(dǎo)體GaAsAl、GaAsP，固溶體半導(dǎo)體，如Ge-Si、GaAs-GaP等的塊體材料的電阻率測量等材料的電阻率測量。
二、主要應(yīng)用領(lǐng)域：
半導(dǎo)體材料電阻測試
復(fù)合絕緣材料
陶瓷材料
云母
玻璃材料
導(dǎo)電功能薄膜材料
絕緣超材料
硅橡膠材料
PCB材料
三、主要技術(shù)參數(shù)：
溫度范圍：-160℃-600℃
升溫斜率：0-10℃/min (典型值：3℃/min)
控溫精度：±0.5℃
電阻測量范圍：0.1mΩ~1MΩ
電阻率測量范圍：100nΩ..cm~100KΩ .cm
測量環(huán)境：惰性氣氛、還原氣氛、真空氣氛
測量方法：四線電阻法
測試通道：單通道
樣品尺寸：10mmx10mmX20mm或φ＜20mm ,d＜5mm
電極材料：紫銅鍍金
絕緣材料：99氧化鋁陶瓷
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式：TXT文本格式
數(shù)據(jù)傳輸：USB
符合標(biāo)準(zhǔn)：ASTM
供電：220V±10%，50Hz
工作溫度：5℃ 至 + 40 ℃；
存儲(chǔ)溫度：–40 ℃ 至 +65 ℃
工作濕度：+40 ℃ 時(shí)，相對(duì)濕度高達(dá) 95%（無冷凝）
設(shè)備尺寸：400x450x580mm
重量：38kg
案列：交付中科院上海微電子系統(tǒng)研究所
現(xiàn)場交付圖
能提供從-190℃到600℃溫度范圍內(nèi)的精準(zhǔn)控制。
現(xiàn)場實(shí)驗(yàn)測試變溫電阻測試數(shù)據(jù)（二）
測試樣品為高阻材料，實(shí)驗(yàn)顯示隨溫度升高，材料電阻在高溫下驟降。在本次交付中，針對(duì)客戶需求，對(duì)配套軟件進(jìn)行了定制。
包含兩種測試模式：
①RT測試：樣品電阻隨溫度變化；
②數(shù)據(jù)時(shí)間譜測試：到達(dá)設(shè)定溫度后，樣品電阻隨時(shí)間變化。
