QT8200 系列可提供 8MHz 快速的測試速度，除可符合維修電路板的需求以外，此系統(tǒng)更可針對高速組件、微處理處何控制單元作實(shí)時(shí)功能測試，可適用于PCB組裝制程、電子模塊的線上維修。
QT8200EU 技術(shù)特點(diǎn):
- 具數(shù)字、模擬器件(運(yùn)算放大器)及混合器件在線功能測試，
- 可測器件包括：TTL，CMOS，EIA，LSI，+3.3V，±5V，±12V，混合邏輯元件，線性元件：DTL，OPTO，
REGULATOR，模擬器件(運(yùn)算放大器)，比較器等，合共超過2萬多個(gè)
- 數(shù)字器件在線狀態(tài)分析測試
- 只讀存儲器PROM、EPROM比較測試
- 讀寫存儲器SRAM、DRAM測試
- 無需線路圖和好板即可檢修故障板
- 具在線/離線識別未芯片功能（芯片型號被磨掉）
- 可同時(shí)測試模擬及數(shù)字信號的器件
- 具在線測量電阻/電容/電壓值及頻率
- 具循環(huán)（LOOP）測試功能,可找出間歇性的故障
- 具有邏輯分析儀功能,可顯示被測器件每個(gè)管腳的電平變化.
- 具有直流參數(shù)測試功能,可觀察被測器件管腳的阻抗和電壓的變化，查找性能不良的管腳
- 靜態(tài)QSM-VI智能化掃描測試，全自動自學(xué)功能，無需編程，就可對任何電路板進(jìn)行測試，并可找出芯片的短 / 開路情況
- 具有動態(tài)QSM-VI智能化掃描測試,可找出由于器件管腳老化而產(chǎn)生噪音干擾的故障.
- 具有3個(gè)通道顯波器顯示功能
- 具頻率計(jì)功能，頻率可測量至130MHz
- 具時(shí)鐘終止器功能，用于排除對時(shí)鐘敏感器件的干擾
- 透過特制夾具接口，可對電路板進(jìn)行板功能測試
- 顯示器件管腳屬性，無需查閱器件手冊
- 自動檢測被測器件的自連線關(guān)系
- 總線型器件測試，可自動提示隔離設(shè)置
- 測試時(shí)基和門限可由用戶設(shè)定，排除對被測器件因過載而造成的誤判
- 對測試集電極開路及ECL器件，具有自動上/下拉電阻功能
- 被測板電源自動通斷，避免對器件造成損壞
- 具線路跟蹤和反演電路圖功能(選件)
- 智能圖形化IDDE測試程序生成器用戶可快速建立自己的芯片測試庫(選件)
- 具自動生成測試報(bào)告，方便分析故障點(diǎn)
- 可外接打印機(jī)，將測試報(bào)告及波形打印出來
-符合后驅(qū)動安全操作的EDF 0053/1 安全標(biāo)準(zhǔn)。
QT8200EU 技 術(shù) 規(guī) 格
| 型 號 / 功 能 | QT8200EU 智能化電路板故障診斷系統(tǒng) |
| 數(shù) 字 器 件 功 能 測 試 通 道 規(guī) 格 | |
| 在線功能測試通道 | 標(biāo)準(zhǔn) 48 個(gè)通道，以每卡 16 個(gè)通道遞增，最多可擴(kuò)充到 96 個(gè)通道 |
| 吸收 / 匯源電源 | 650/650Ma 每通道 |
| 每通道數(shù)據(jù)記憶 | 8K x 4 BIT RAM |
| 驅(qū)動速度 | 8MHz |
| 隔離通道 | 8/16 |
| 驅(qū)動高 | 由 0 至 +10V 可編程驅(qū)動，以每步 40Mv 遞增 |
| 驅(qū)動低 | 由 0 至 -10V 可編程驅(qū)動，以每步 40Mv 遞增 |
| 感應(yīng)高 | 以每步 40Mv 遞增 |
| 感應(yīng)低 | 以每步 40Mv 遞增 |
| 系統(tǒng)供電能力 | +5V/ 7A ; -5V/ 0.5A ; +12V/ 2.5A ; -12V/ -0.7A : +24V |
| 測試元件庫種類 | TTL ， COM ， ECL ， EIA ， LSI ， +3.3V, ± 5V, ± 12V, 混合邏輯元件，線性元件： DTL ， OPTO ， REGUCATOR ，模擬器件，比較器等，合共超過 2 萬多個(gè)器件 |
| 模 擬 器 件 功 能 測 試 通 道 規(guī) 格 | |
| 基本通道 | 標(biāo)準(zhǔn) 3 個(gè)模擬通道，可擴(kuò)充至 6 個(gè)通道，可作為在線及離線之用 |
| 驅(qū)動模式 | 用戶自定義 / 正弦波 / 巨齒波 / 三角波 / 方波或等 DC 電壓 |
| 每通道數(shù)據(jù)記憶 | 8K x 24 BIT RAM |
| 驅(qū)動電流 / 電壓 | ± 250Ma / ± 13V |
| 輸出 / 輸入電壓 | 26V |
| DC 電壓 | ± 13V ，以每步 7Mv 遞增 |
| 模擬測試頻率 | 4 MHz / 0.03125 Hz |
| 脈寬 | 由 125Ns 至 4 MS. |
| 可編程負(fù)載 | 由 50 Ω至 100K Ω分成 5 步 |
| 模擬通道分辨率 | 每管腳 / 每通道 12 位 ADC/DAC |
| 電壓幅度 | 0.1V 至 13V ( 26 Vpp, Vpp 0.2) |
| 驅(qū)動源阻抗 | 分 5 步可編程 |
| QSM-VI 智 能 化 掃 描 通 道 規(guī) 格 | |
| QSM- VI 通道 | 標(biāo)準(zhǔn) 48 個(gè)通道，可擴(kuò)充至 96 個(gè)通道 |
| QSM-VI 探針通道 | 2 個(gè)通道 |
| 掃描頻率 | 40Hz ， 312Hz ， 2.5KHz |
| 輸入方式 | 測試夾或探針 |
| 掃描電壓幅度 | 正弦波在 |
| 0.6V 高 @6mA 中 @1.5mA 低 @0.3mA 1.0V 高 @10mA 中 @2.5mA 低 @0.5mA 2.5V 高 @25mA 中 @6.25mA 低 @1.25mA 8.0V 高 @20mA 中 @4mA 低 @0.4mA 13V 高 @6.5mA 中 @0.65mA 低 @0.065mA | |
| 主控和要求 | 486DX ， 586/686 以上電腦， 16M 內(nèi)存， 350MB ， HD ； SVGA 顯示器 |
| 數(shù) 字 示 波 器 規(guī) 格 | |
| 通 道 數(shù) | 3 個(gè)通道 |
| 分 辨 度 | 12 位分辯率 |
| 電壓幅度 | 0-13V ( 分 5 段 ) |
| 時(shí)基 | 由 160 毫秒至 5 秒 |
| 觸發(fā) | 自動 , 正常 , 單個(gè) , 正 / 負(fù)邊緣觸發(fā) |
| 輸入阻抗 | 由 50 Ω 至 5M Ω |
| 每通道記憶深度 | 每通道具有 8K 存儲器 |
| 時(shí) 鐘 管 腳 終 止 器 | |
| 終止電壓 | 在± 13V 范圍內(nèi) |
| 可編程電阻范圍 | 50 Ω， 200 Ω， 1K Ω， 10K Ω及 100K Ω |
| 萬 用 表 功 能 | |
| 測量范圍： | |
| 電阻 | 10 Ω to 1M Ω |
| 電容 | 200pF to 10000F |
| 電壓 | ± 13V |
| 頻率 | 0 至 130 MHz |
| 系 統(tǒng) 規(guī) 格 | |
| 機(jī)身尺寸 | 560mm (W) X 540mm (D) X 310mm (H) |
| 機(jī)身重量 | 30 KG |
| 電源 | 交流電 220V |
適用領(lǐng)域:
- 工業(yè)自動控制生產(chǎn)線的維修
- 通信設(shè)備的維修
- 醫(yī)療設(shè)備的維修
- 樣板開發(fā)測試
- 芯片篩選測試
