一、 測(cè)試手段 : 1、 在線器件功能測(cè)試（快速診斷） 2、 離線器件功能測(cè)試（可做器件篩選） 3、 智能化QSM-VI掃描測(cè)試 4、 交互式QSM-VI實(shí)時(shí)比較測(cè)試 4、 動(dòng)態(tài)智能化QSM-VI掃描測(cè)試 6、 具示波器功能、邏輯分析儀功能 7、 具電壓、電阻、電容量度測(cè)試功能 二、 測(cè)試方法 : 1、 將夾具夾在芯片上，輸入芯片型號(hào)即可 2、 透過(guò)探針測(cè)試通道可對(duì)分立元件進(jìn)行測(cè)試 3、 可配置針床夾具，作為品質(zhì)檢驗(yàn)及多品種小批量生產(chǎn)測(cè)試之用 4、 透過(guò)探針或夾具對(duì)好/壞板進(jìn)行實(shí)時(shí)比較測(cè)試 5、 循環(huán)測(cè)試（LOOP），診斷隨機(jī)故障 三、 可測(cè)試芯片范圍 : 1、 數(shù)字、模擬芯片(運(yùn)算放大器)、混合信號(hào)芯片 2、 未芯片、分立元件 3、 整板測(cè)試，將電路板視為一個(gè)芯片 2、 無(wú)需線路圖和好板即可檢修故障板 3、 具數(shù)字、模擬器件(運(yùn)算放大器)及混合器件在線功能測(cè)試， OPTO，REGULATOR，模擬器件(運(yùn)算放大器)，比較器等，合共超過(guò)2萬(wàn)多個(gè) 10、 具板/元件學(xué)習(xí)及測(cè)試功能 11、 具測(cè)試夾具自動(dòng)定位及感應(yīng)功能 12、 具在線測(cè)量電阻/電容值及電壓值 13、 具循環(huán)（LOOP）測(cè)試功能,可找出間歇性的故障 15、 QSM-VI智能化掃描測(cè)試，全自動(dòng)自學(xué)功能，無(wú)需編程，就可對(duì)任何電路板進(jìn)行測(cè)試，并可找出 芯片的短/開(kāi)路情況 16、 具有動(dòng)態(tài)QSM-VI智能化掃描測(cè)試，可找出由于器件管腳老化而產(chǎn)生噪音干擾的故障 28、 快速生成被測(cè)板PCB圖，引導(dǎo)測(cè)試 29、 具在線自動(dòng)補(bǔ)償功能，可自動(dòng)修正測(cè)試程序中的驅(qū)動(dòng)波形，無(wú)需人工修改程序 30、 可配置DIP，SOIC，PLCC等夾具 33、 符合后驅(qū)動(dòng)安全操作的EDF 0053/1 安全標(biāo)準(zhǔn) 五、適用領(lǐng)域:
5、 板學(xué)習(xí)測(cè)試及板功能測(cè)試
四、 技 術(shù) 特 點(diǎn):
1、 操作軟件在視窗下運(yùn)行，靈活、簡(jiǎn)單方便
4、 可測(cè)器件包括：TTL，CMOS，EIA，LSI，+3.3V，±12V，混合邏輯元件，線性元件：DTL，
5、 數(shù)字器件在線狀態(tài)分析測(cè)試
6、 只讀存儲(chǔ)器PROM、EPROM比較測(cè)試
7、 讀寫(xiě)存儲(chǔ)器SRAM、DRAM測(cè)試
8、 具在線/離線識(shí)別未芯片功能
9、 可同時(shí)測(cè)試模擬及數(shù)字信號(hào)的器件
14、 自動(dòng)檢測(cè)被測(cè)器件的自連線關(guān)系
17、 具有邏輯分析儀功能，可顯示被測(cè)器件每個(gè)管腳的電平變化
18、 具有直流參數(shù)測(cè)試功能,，可觀察被測(cè)器件管腳的阻抗和電壓的變化，用于查找性能不良的管腳
19、 具3個(gè)示波器顯示通道功能
20、 透過(guò)特制夾具接口，可對(duì)電路板進(jìn)行板功能測(cè)試
21、 可顯示器件管腳屬性，無(wú)需查閱器件手冊(cè)
22、 總線型器件測(cè)試，可自動(dòng)提示隔離設(shè)置
23、 測(cè)試時(shí)基和門(mén)限可由用戶設(shè)定，排除對(duì)被測(cè)器件因過(guò)載而造成的誤判
24、 對(duì)測(cè)試集電極開(kāi)路（OC）及 E CL 器件，具有自動(dòng)上/下拉電阻功能
25、 被測(cè)板電源自動(dòng)通斷，避免對(duì)器件造成損壞
26、 具線路跟蹤和反演電路圖功能(選件)
27、 智能圖形化IDDE測(cè)試程序生成器，用戶可快速建立自己的芯片測(cè)試庫(kù)(選件)
31、 具自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告，方便分析故障點(diǎn)
32、 可外接打印機(jī)，將測(cè)試報(bào)告及波形打印出來(lái)
- 工業(yè)自動(dòng)控制生產(chǎn)線的維修
- 通信設(shè)備的維修
- 醫(yī)療設(shè)備的維修
- 樣板開(kāi)發(fā)測(cè)試
- 芯片篩選測(cè)試
QT200EU 技 術(shù) 規(guī) 格
| 型 號(hào) 功 能 | QT200EU 智能化電路板故障診斷系統(tǒng) |
| 數(shù) 字 器 件 功 能 測(cè) 試 通 道 規(guī) 格 | |
| 在線功能測(cè)試通道 | 標(biāo)準(zhǔn)48個(gè)通道，以每卡16個(gè)通道遞增，最多可擴(kuò)充到96個(gè)通道 |
| 吸收/匯源電源 | 650/650Ma 每通道 |
| 每通道數(shù)據(jù)記憶 | 8K x 2 BIT RAM |
| 驅(qū)動(dòng)速度 | 由2μS至16mS時(shí)鐘段共分14級(jí) |
| 隔離通道 | 8/16 |
| 系統(tǒng)供電能力 | +5V/7A; -5V/0.5A; +12V/2.5A; -12V/-0.7A: +24V |
| 測(cè)試元件庫(kù)種類 | TTL，COM，ECL，EIA，LSI，+3.3V,±12V, 混合邏輯元件，線性元件：DTL，OPTO，REGUCATOR，模擬器件，比較器等，合共超過(guò)2萬(wàn)多個(gè)器件 |
| 模 擬 器 件 功 能 測(cè) 試 通 道 規(guī) 格 | |
| 基本通道 | 標(biāo)準(zhǔn)3個(gè)模擬通道，可擴(kuò)充至6個(gè)通道，可作為在線及離線之用 |
| 驅(qū)動(dòng)模式 | 正弦波/上升弦/方波等或用戶自定義 |
| 每通道數(shù)據(jù)記憶 | 8K x 12 BIT RAM |
| 驅(qū)動(dòng)電流/電壓 | ±250mA，±13V |
| QSM-VI智 能 化 掃 描 通 道 規(guī) 格 | |
| QSM- VI通道 | 標(biāo)準(zhǔn)48個(gè)通道，可擴(kuò)充至96個(gè)通道 |
| QSM-VI探針通道 | 2個(gè)通道 |
| 掃描電壓幅度 | ±2.5V, ±8.0V, ±13V |
| 掃描頻率 | 40Hz，312Hz，2.5KHz |
| 輸入方式 | 測(cè)試夾或探針 |
| 主控和要求 | 486DX，586/686以上電腦，16M內(nèi)存，350MB，HD；SVGA顯示器 |
| 數(shù) 字 示 波 器 規(guī) 格 | |
| 通 道 數(shù) | 3 個(gè)通道 |
| 分 辨 度 | 12位分辨度 |
| 電壓幅度 | 0-13V (分5段) |
| 時(shí)基 | 由8µS 至9.6mS |
| 觸發(fā) | 自動(dòng),正常,單個(gè),正/負(fù)邊緣觸發(fā) |
| 輸入阻抗 | 由50Ω 至 5MΩ |
| | |
| 系 統(tǒng) 規(guī) 格 | |
| 通訊接口 | USB |
| 機(jī)身尺寸 | 49(W)*30(D)*40(H)Cm |
| 機(jī)身重量 | 25KG |
| 電源 | 交流電220V |
