腐蝕氣體實(shí)驗(yàn)箱用途概述：

     適用于對大型電工電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行各種有毒（害）氣體試驗(yàn)產(chǎn)品暴露

于密閉無光照的含有毒（害）氣體濃度的空氣環(huán)境中，模擬在有毒（害）腐蝕氣體惡劣環(huán)境條

件下對產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行質(zhì)量苛刻的要求與變化的分析。利用多種氣體，在一定的溫度

和相對的濕度的環(huán)境下對材料或產(chǎn)品進(jìn)行加速腐蝕，重現(xiàn)材料或產(chǎn)品在一定時(shí)間范圍內(nèi)所遭受

的破壞程度。

腐蝕氣體實(shí)驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):

1、IEC 68-2-60 《試驗(yàn)方法 Ke：人造低濃度污染氣體腐蝕試驗(yàn)》；

2、EN 60068-2-60-1996《環(huán)境試驗(yàn)第2-60部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ke：流動混合氣體的腐蝕試

     驗(yàn)》；      

3、DIN 50018《飽和環(huán)境下的二氧化硫試驗(yàn)》；

4、GB 2423.19-81《接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫腐蝕試驗(yàn)》

5、GBT 2423.33-2005《高濃度的二氧化硫腐蝕試驗(yàn)》； 

6、GB 9789-88《通常凝露狀態(tài)下的二氧化硫腐蝕試驗(yàn)》；

7、GBT2423.51-2000《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)，試驗(yàn)Ke流動混合氣體腐蝕試驗(yàn)》；

8、GB/T2423.20-2014《環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法，試驗(yàn)kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫

     試驗(yàn)》；

規(guī)格及型號:（用戶選型）

型號: ZT-CTH-80A       內(nèi)形尺寸W×H×D  400×500×400mm

型號: ZT-CTH-150A      內(nèi)形尺寸W×H×D  500×600×500mm

型號: ZT-CTH-225A      內(nèi)形尺寸W×H×D  500×750×600mm

型號: ZT-CTH-408A      內(nèi)形尺寸W×H×D  600×850×800mm

型號: ZT-CTH-800A      內(nèi)形尺寸W×H×D  1000×1000×800mm

型號: ZT-CTH-1000A    內(nèi)形尺寸W×H×D  1000×1000×1000mm