詳細摘要: 簡要描述:美國ASI 激光剝蝕—激光誘導擊穿光譜復合系統(tǒng)*技術能夠將激光剝蝕與激光誘導擊穿光譜相結合,實現了LIBS與LA-ICP-MS的同時檢測。該系統(tǒng)可與市...
產品型號:J200 LA-LIBS所在地:更新時間:2022-12-01 在線留言北京富爾邦科技發(fā)展有限責任公司
詳細摘要: 簡要描述:美國ASI 激光剝蝕—激光誘導擊穿光譜復合系統(tǒng)*技術能夠將激光剝蝕與激光誘導擊穿光譜相結合,實現了LIBS與LA-ICP-MS的同時檢測。該系統(tǒng)可與市...
產品型號:J200 LA-LIBS所在地:更新時間:2022-12-01 在線留言詳細摘要: 簡要描述:美國ASI J200激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)是一種用于化學多元素定性和定量分析的原子發(fā)射光譜,廣泛應用于刑偵、材料、地礦、考古、能源、環(huán)境、生態(tài)...
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