半導體激光器老化電源特點

準確度0.1%；

支持LIV掃描測試；

直流Z大60A輸出；

Z小脈寬100us;

電源抗浪涌設計；

豐富的掃描模式；

預留光電流、溫度/水流量監(jiān)控、DIO接口；

支持多種通信接口：RS-232/LAN。

技術參數(shù)

HCPL系列半導體激光器老化電源具備CW及QCW輸出能力，單設備CW輸出電流可高達60A，輸出電壓可高達100V，可廣泛應用于大功率LED的LIV測試及老化、大功率半導體激光器的LIV測試及老化、肖特基二極管測試、整流橋堆測試等。設備支持多臺并聯(lián)來實現(xiàn)更大電流輸出，輸出電流精度及電壓測量精度均可達0.1%?；谄召愃苟嗄闟MU研發(fā)經(jīng)驗，產(chǎn)品集成了電壓測量、光電流測量、溫度監(jiān)控、水流量監(jiān)控等，特別適用于施加電流并同步測量的場景，可大幅度降低系統(tǒng)集成難度。

普賽斯以自主研發(fā)為導向，深耕半導體測試領域，在I-V測試上積累了豐富的經(jīng)驗，先后推出了直流源表，脈沖源表、脈沖恒流源、脈沖恒壓源、功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)、大功率激光器老化測試系統(tǒng)等測試設備，廣泛應用于高校研究所、實驗室，新能源，光伏，風電，軌交，變頻器等場景。普賽斯全新升級S系列數(shù)字源表更大直流,更高精度,科研實驗B備源表,標準的SCPI指令集,上位機軟件功能豐富,半導體測試領域的經(jīng)典產(chǎn)品!