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產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 否 |
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KARL DEUTSCH涂層測厚儀Leptoskop厚度儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術(shù),操作簡便。還包括通過解鎖代碼進(jìn)行快速現(xiàn)場升級的選項(xiàng)。
KARL DEUTSCH涂層測厚儀Leptoskop厚度儀用于測量磁性基材上的非磁性涂層的厚度(根據(jù)DIN EN ISO 2178)并通過渦流法測量非磁性導(dǎo)電基材上的非導(dǎo)電涂層的厚度(根據(jù)DIN EN ISO 2360)。
應(yīng)用
特點(diǎn):
選型:
LEPTOSKOP 2042具有三種配置級別:
技術(shù)數(shù)據(jù) | |
串行接口 | 用于將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB |
電源 | 通過電池,USB或電源裝置 |
測量范圍 | 0-20000 µm(取決于探頭) |
測量率 | 每秒高達(dá)2個讀數(shù) |
存儲 | 高 9999個讀數(shù)(多140個文件) |
測量不確定度 (校準(zhǔn)后) | 涂層厚度<100 µm:讀數(shù)的1%+/- 1 µm 涂層厚度> 100 µm:讀數(shù)的1.0.3%+/- 1 µm 涂層厚度> 1000 µm:讀數(shù)的3..5% /-10 µm 涂層厚度> 10000 µm:讀數(shù)的5%+ /- 100 µm |
附件 | |
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