詳細(xì)摘要: JIMA RT RC-05B 分辨率測(cè)試卡是一款采用最1新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測(cè)試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率,確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)獲...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2024-08-28 在線留言
深圳市凈康科技有限公司
詳細(xì)摘要: JIMA RT RC-05B 分辨率測(cè)試卡是一款采用最1新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測(cè)試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率,確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)獲...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2024-08-28 在線留言詳細(xì)摘要: JIMA(日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)),致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無損檢測(cè)儀器,JIMA RT RC-04 分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2023-09-06 在線留言詳細(xì)摘要: JIMA(日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)),致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無損檢測(cè)儀器,JIMA RT RC-05 分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X...
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