詳細(xì)摘要： 掃描型膜厚測試儀全自動，超快速，高精準(zhǔn)等膜厚表征繪制和膜厚涂覆的光學(xué)特性，利用光學(xué)反射方法來測量和自動分析薄膜涂層的表征。
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詳細(xì)摘要： 掃描型膜厚測試儀全自動，超快速，高精準(zhǔn)等膜厚表征繪制和膜厚涂覆的光學(xué)特性，利用光學(xué)反射方法來測量和自動分析薄膜涂層的表征。
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