IC半導體冷熱沖擊試驗儀冷凍及風路循環(huán)系統(tǒng) 
　　☆集成電路板高低溫試驗箱制冷機采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機。 
　　☆風路循環(huán)出風回風設計，風壓風速均符合測試標準，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。 
　　☆升溫、降溫、系統(tǒng)*獨立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。 
　　☆冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設計。 
　　☆采用多翼式送風機強力送風循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內溫度分布均勻。 
IC半導體冷熱沖擊試驗儀 箱體結構特點 
　　☆大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且利用發(fā)熱體內嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。 
　　☆箱體左側配直徑50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。 
　　☆集成電路板高低溫試驗箱箱體采用數控機床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。 
　　☆箱體內膽采用進口不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質感和潔凈度。 
IC半導體冷熱沖擊試驗儀評審結論 
　　☆對設計是否滿足本設計階段要求，能否轉人下一設計（或生產）階段作出結論; 
　　☆對設計工作及水平作一次技術上的評價; 
　　☆根據FMECA的情況，對存在的主要失效模式是否采取了有效措施提出意見等。后填寫評審鑒定書。 
　　設計評審過程中形成的資料是評價設計質量的重要憑證。要認真填寫,并整理歸檔。

 
IC半導體冷熱沖擊試驗儀設計質量分析報告內容至少包括: 
　　☆設計依據、目標和達到的水平; 
　　☆設計主要特點和改進; 
　　☆本階段可靠性分析、試驗結果; 
　　☆對主要問題和薄弱環(huán)節(jié)的分析及對策; 
　　☆提交設計審查的設計、試驗資料目錄; 
　　☆設計目標及核實達到的水平; 
IC半導體冷熱沖擊試驗儀控制器 
　　☆資料及試驗條件輸入后，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。 
　　☆具有P.I.D自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定。 
　　☆集成電路板高低溫試驗箱溫度控制采用全進口觸摸按鍵式儀表，操作設定簡單。(日本RKC) 
　　☆可選配打印機。 
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