HAST高壓加速壽命試驗(yàn)箱*主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體。

◆ 真空泵浦設(shè)計(jì)(鍋爐內(nèi)空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性；

◆ 超長效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺運(yùn)轉(zhuǎn)300小時(shí)；

◆ 干燥設(shè)計(jì)，試驗(yàn)終止采真空干燥設(shè)計(jì)確保測試區(qū)(待測品)的干燥；

◆ 水位保護(hù)，透過爐內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù)；

◆ 耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6k；

◆ 二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置；

◆ 安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕；

HAST高壓加速壽命試驗(yàn)箱*