摘要 本設(shè)備基于雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制技術(shù)一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、R/T等光譜，可實(shí)現(xiàn)基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學(xué)常數(shù)的快速分析表征。

摘要 SE-VE橢偏儀是基于單旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制技術(shù)一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、反射率等光譜，可實(shí)現(xiàn)基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學(xué)常數(shù)的快速分析表征。

摘要橢偏儀折射率介電常數(shù)GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久...

摘要橢偏儀測(cè)介電常數(shù)GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介...

摘要 采用雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償技術(shù)，可測(cè)量穆勒矩陣的全部16個(gè)單元，RC2是J.A.Woollam公司的的光譜橢偏儀產(chǎn)品。

摘要 BX-G102系列針對(duì)科研和工業(yè)環(huán)境推出的高精度快速攝譜型廣義光譜橢偏儀，波長(zhǎng)范圍覆蓋紫外、可見(jiàn)到紅外。 廣義光譜橢偏儀采用寬帶超消色差補(bǔ)償器、利用步進(jìn)補(bǔ)償器掃描測(cè)量采樣模式、基于高靈敏度探測(cè)單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測(cè)量納米薄膜樣品、塊狀材料和各向異性材料。

摘要BX-G101系列針對(duì)科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測(cè)量推出的高精度快速攝譜型光譜橢偏儀，波長(zhǎng)范圍覆蓋紫外、可見(jiàn)到紅外。 光譜橢偏儀基于高靈敏度光譜探測(cè)單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測(cè)量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，厚度）和物理參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k，或介電函數(shù)ε1...

摘要BX-G103系列是針對(duì)新穎研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對(duì)樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。可用于測(cè)量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實(shí)時(shí)...

摘要BX-G104針對(duì)光伏太陽(yáng)能電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的專用型多入射角激光橢偏儀。 BX-G104用于測(cè)量絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)電池表面減反膜鍍層的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測(cè)量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8n...

摘要BX-G105 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測(cè)量原理，針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué)儀器。BX-G105儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。 BX-G105儀器還可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)...

摘要 儀器廠商：美國(guó)J.A.Woollam公司型號(hào)：M-2000DI到貨日期：2008.4.19技術(shù)指標(biāo)：●波長(zhǎng)范圍：190~1700nm●光譜分辨率：1.6nm（波長(zhǎng)小于1000nm）

摘要 SE-1000型橢偏儀采用手動(dòng)變角裝置來(lái)設(shè)定測(cè)試的入射角，樣品臺(tái)采用手動(dòng)方式，在測(cè)試的準(zhǔn)確性和靈活性與SE-2000保持一致的情況下，為客戶提供了一款競(jìng)爭(zhēng)力的橢偏測(cè)試設(shè)備

摘要 光譜橢偏儀/SpectroscopicEllipsometerSE2000型光譜型橢偏儀是多功能薄膜測(cè)試系統(tǒng)，適合各種薄膜材料的研究

摘要 簡(jiǎn)單介紹： 除了可以進(jìn)行高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜儀之外，我們還通過(guò)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)可變測(cè)量機(jī)制來(lái)支持所有類型的薄膜。除了常規(guī)的旋轉(zhuǎn)光子檢測(cè)器方法之外，通過(guò)為延遲板提供自動(dòng)連接/分離機(jī)制，還提高了測(cè)量精度。

摘要 SmartSE,智能型多功能橢偏儀SmartSE是一款通用型薄膜測(cè)量工具

摘要 Auto SE一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀

摘要 橢偏儀

摘要 橢偏儀應(yīng)用光譜橢偏儀是一種用于探測(cè)薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)特性的光學(xué)測(cè)量設(shè)備

摘要 全自動(dòng)光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來(lái)，樣品對(duì)準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測(cè)量的可重復(fù)性和精確性

摘要 多角度激光橢偏儀使用632.8nm波長(zhǎng)HeNe激光器，對(duì)測(cè)量薄膜厚度，折射率和吸收系數(shù)有非常出色的精度。儀器能夠分析單層膜，多層膜和大塊材料（基底）。

摘要 用于橢偏儀或其它光譜儀等設(shè)備。

摘要SE 800 PV 激光橢偏儀，SENTECH設(shè)計(jì)了SE 800 PV，用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3組成的多層鈍化膜和防反射涂層。分析了單晶和多晶硅太陽(yáng)電池的折射率指數(shù)、吸收和膜厚。在配方模式下進(jìn)行復(fù)雜的測(cè)量，速度快，操作容易...

摘要 激光橢偏儀SE 400adv PV.是化使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器，用于測(cè)量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽(yáng)能電池上的SiNx 防反射單層膜的性能。該儀器用于SiNx涂層和薄鈍化層SiO2和Al2O3的質(zhì)量控制。

摘要 激光橢偏儀SE 500adv，橢偏儀SE 500adv將激光橢偏儀和反射儀結(jié)合在一個(gè)系統(tǒng)中。這種組合允許零度反射法用于快速薄膜分析，并且允許透明膜以激光橢偏儀的亞埃精度將可測(cè)量的厚度范圍擴(kuò)展到25埃米，從而明確地確定厚度。

摘要 激光橢偏儀 SE 400adv，激光橢偏儀SE 400adv測(cè)量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測(cè)量速度、亞埃級(jí)別的厚度精度和折射率測(cè)定的精度。多角度測(cè)量允許使用激光橢偏儀SE 400adv表征吸收膜特征。

摘要 SENDURO 全自動(dòng)光譜橢偏儀,包括基于測(cè)量處方的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設(shè)計(jì)是為了便于操作：放置樣品，自動(dòng)樣品對(duì)準(zhǔn)，自動(dòng)測(cè)量和分析結(jié)果。在全自動(dòng)模式下使用光譜橢偏儀非常適合于質(zhì)量控制和研發(fā)中的常規(guī)應(yīng)用。

摘要 SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測(cè)量紅外分子振動(dòng)模的吸收譜帶，分析長(zhǎng)分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測(cè)量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。

摘要 德國(guó) Sentech 低成本高效益的光譜橢偏儀SENpro,SENpro橢偏儀是橢偏儀應(yīng)用的智能解決方案。它具有角度計(jì)，入射角度步進(jìn)值5。操作簡(jiǎn)單，快速測(cè)量和直觀的數(shù)據(jù)分析相結(jié)合，以低成本效益高的設(shè)計(jì)來(lái)測(cè)量單層和多層膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。

摘要德國(guó)Sentech SENresearch 4.0 用于光譜橢偏儀，在寬的光譜范圍從190nm（深紫外）到3,500 nm（近紅外）。每一臺(tái)SENresearch 4.0都是客戶特定的橢偏光譜解決方案。SENresearch 4.0可以配置用于全穆勒矩陣、各向異性、廣...

摘要 一、產(chǎn)品介紹：20多年技術(shù)積累和發(fā)展的結(jié)晶,是一款高準(zhǔn)確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機(jī)型。即使在透明的基底上也能對(duì)超薄膜進(jìn)行精確的測(cè)量。采用PEM相位調(diào)制技術(shù)，與機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比,能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。二、產(chǎn)品參數(shù)

摘要 橢偏儀 FILM SENSE可通過(guò)橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析,適用于薄膜材料的快速測(cè)量表征.

摘要光譜橢偏儀可配置從DUV到NIR的波長(zhǎng)范圍。DUV范圍可用于測(cè)量超薄膜，如納米厚度范圍。比如硅晶片上的原生氧化物，其通常僅為約1至2nm厚。當(dāng)用戶需要測(cè)量許多材料的帶隙時(shí)，深紫外光譜橢偏儀也是的?？梢?jiàn)或近紅外范圍用于測(cè)量相對(duì)厚或非常厚的涂層。當(dāng)然，如果必須確定光學(xué)常數(shù)...

摘要 SpecEl橢偏儀通過(guò)測(cè)量基底反射的偏振光，進(jìn)而測(cè)量薄膜厚度及材料不同波長(zhǎng)處的折射率。SpecEl通過(guò)PC控制來(lái)實(shí)...

摘要 SE-PV光伏橢偏儀

摘要 SE-i 光譜橢偏儀

摘要 SE-Glass 光譜橢偏儀

摘要 SE-Mapping光譜橢偏儀

摘要 SE-L光譜橢偏儀

摘要 SE-VE光譜橢偏儀

摘要 ME-L全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀

摘要 SE-VM光譜橢偏儀

摘要 智能型多功能橢偏儀 Smart SE

摘要 一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀 Auto SE

摘要 研究級(jí)經(jīng)典型橢偏儀-UVISEL

摘要 光譜型橢偏儀