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GDS-5B感應(yīng)式32.768KHz晶振測試儀——精準(zhǔn)守護時間基準(zhǔn)的智能檢測利器
在電子設(shè)備高度依賴精準(zhǔn)時鐘的今天,32.768KHz晶振作為實時時鐘(RTC)模塊的核心元件,其穩(wěn)定性直接關(guān)系到設(shè)備的計時精度與可靠性。為解決傳統(tǒng)晶振測試中接觸不良、效率低、數(shù)據(jù)誤差大等痛點,GDS-5B感應(yīng)式32.768KHz晶振測試儀應(yīng)運而生。這款專為電子工程師、生產(chǎn)廠商及維修技術(shù)人員設(shè)計的智能檢測設(shè)備,以非接觸式感應(yīng)技術(shù)為核心,重新定義了晶振測試的便捷性與精準(zhǔn)度。
一、產(chǎn)品核心優(yōu)勢
1.非接觸式感應(yīng)測試,高效無損檢測
GDS-5B采用自主研發(fā)的電磁感應(yīng)耦合技術(shù),無需物理接觸晶振引腳即可完成測試。這一創(chuàng)新設(shè)計規(guī)避了傳統(tǒng)夾具接觸不良導(dǎo)致的誤差,同時避免了對精密晶振的潛在損傷,尤其適用于SMD貼片式、微型封裝等易損元件的檢測。
2.32.768KHz專屬頻段優(yōu)化
針對RTC晶振特性,設(shè)備內(nèi)置高精度頻率計數(shù)模塊,分辨率達0.00001Hz,可精準(zhǔn)捕捉頻率偏移、啟動時間、穩(wěn)定性等關(guān)鍵參數(shù)。支持動態(tài)波形顯示功能,實時反饋晶振振蕩波形,助力快速定位異常。
3.智能分析,一鍵生成報告
配備5.7英寸高清觸控屏,操作界面簡潔直觀。設(shè)備內(nèi)置智能算法,可自動計算頻率偏差、溫度系數(shù)等數(shù)據(jù),并支持測試結(jié)果PDF/CSV格式導(dǎo)出,滿足生產(chǎn)批量化檢測與質(zhì)量追溯需求。
4.寬電壓適配,場景全覆蓋
支持1.5V至5V寬電壓輸入,兼容市面主流晶振工作電壓。配備可調(diào)節(jié)測試夾具,適配DIP、SMD、圓柱形等多種封裝形式,從消費電子到工業(yè)設(shè)備,一機覆蓋全場景測試需求。
二、技術(shù)參數(shù)一覽
參數(shù)項 | 規(guī)格 |
---|---|
測試頻率范圍 | 32.768KHz ±0.01% |
頻率分辨率 | 0.00001赫茲 |
測試精度 | ±1ppm(25°C±5°C環(huán)境) |
響應(yīng)時間 | ≤0.5秒(單次測試) |
顯示方式 | 數(shù)字顯示+波形圖 |
數(shù)據(jù)接口 | USB Type-C(支持PC端軟件聯(lián)動) |
電源輸入 | 直流 9V/2A(適配通 |
三、應(yīng)用場景
生產(chǎn)質(zhì)檢:批量檢測晶振頻率一致性,保障RTC模塊出廠良率。
研發(fā)調(diào)試:快速驗證電路設(shè)計對晶振性能的影響,縮短開發(fā)周期。
維修診斷:精準(zhǔn)定位時鐘故障,避免整機返修帶來的成本損失。
實驗室研究:提供高精度頻率基準(zhǔn),支持晶振老化測試、溫漂分析等實驗。
四、設(shè)計亮點
便攜式機身:尺寸僅180×120×45mm,重量輕于500g,適合現(xiàn)場檢測與移動辦公。
低功耗設(shè)計:待機功耗低于2W,連續(xù)工作時長超8小時。
安全防護:內(nèi)置過壓、反接保護電路,避免誤操作損壞設(shè)備。
五、總結(jié)
GDS-5B 32.768KHz晶振測試儀以“精準(zhǔn)、高效、安全”為核心理念,通過非接觸式技術(shù)與智能化分析的深度融合,為晶振檢測領(lǐng)域樹立了。無論是追求效率的生產(chǎn)線,還是需要深度分析的研發(fā)實驗室,GDS-5B都能提供穩(wěn)定可靠的測試解決方案,助力企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量,降低維護成本。
讓每一顆晶振的跳動都清晰可見——GDS-5B,您身邊的時間基準(zhǔn)守護專家。
關(guān)鍵詞:32.768KHz晶振測試儀、感應(yīng)式檢測、非接觸測試、晶振頻率分析、RTC模塊檢測、智能測試設(shè)備