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# 晶振測試儀GDS-80S：智慧源的高精度晶振檢測解決方案
智慧源晶振測試儀GDS-80S 是一款專為電子元器件生產商、智能硬件研發(fā)實驗室及第三方檢測機構打造的高性能晶振測試設備。以下是關于該產品的詳細介紹：
## 一、產品概述
GDS-80S 是一款全自動晶振測試設備，集頻率測量、負載電容測試、等效電阻（ESR）分析等核心功能于一體。其采用高精度數字信號處理技術，結合自動化測試流程，可快速完成晶振參數的全面檢測，大幅提升生產效率和產品良率。該設備采用自主研發(fā)的雙通道同步測量技術與寬頻阻抗分析算法，能夠精準測量石英晶體諧振器、振蕩器的阻抗特性（ESR）、諧振頻率（Fr）和反諧振頻率（Fa），支持頻率覆蓋 10KHz 至 100MHz，滿足 5G 通信、物聯網模組、車載電子等高精度晶振的檢測需求。
## 二、核心優(yōu)勢
### （一）高精度測量
具備 5ppm 的測量精度，能夠精確檢測石英晶體的串聯諧振頻率、負載諧振頻率等關鍵參數，為用戶提供準確可靠的數據支持[^1000^]。
### （二）多參數一體化測試
- **頻率測量范圍**：覆蓋 1MHz 至 200MHz，支持基頻與泛音模式，滿足各類晶振測試需求。
- **負載電容精準調節(jié)**：內置可編程電容矩陣，調節(jié)范圍 1pF~100pF（步進精度 0.1pF），模擬真實工作環(huán)境。
- **等效電阻（ESR）檢測**：采用低噪聲電路設計，最小分辨率達 0.1Ω，精準評估晶振品質。
### （三）智能化操作體驗
- **7 英寸觸控屏界面**：圖形化操作界面支持參數一鍵設置、測試結果實時顯示及數據導出功能。
- **自動化批量測試**：支持多通道并行檢測（可選配 4 通道 /8 通道），單次測試時間≤3 秒，適用于大規(guī)模生產場景。
### （四）高兼容性與擴展性
兼容 HC-49S、SMD 貼片、圓柱型等主流封裝晶振，適配無源晶體與有源振蕩器。提供 RS-232、USB 及 LAN 接口，支持與 MES 系統(tǒng)對接，實現數據云端管理及遠程監(jiān)控。
### （五）抗干擾設計
采用雙層屏蔽結構及數字濾波技術，有效抑制環(huán)境噪聲，保障測試結果穩(wěn)定性。
### （六）自校準系統(tǒng)
內置高精度參考源，支持一鍵校準，長期使用仍能保持 ±5ppm 的測量精度。
### （七）節(jié)能環(huán)保
待機功耗≤15W，符合 RoHS 與 CE 認證標準。
## 三、技術參數
| 參數項 | 規(guī)格 |
| --- | --- |
| 測試頻率范圍 | 10KHz-100MHz 任意設定 |
| 負載電容 | 4-20pF 任意設定 |
| 負載諧振電阻 | 1Ω-300Ω，1K-300K |
| PPM 范圍測量 | ±300ppm，測量精度：<0.5ppm |
| 時基頻率 | 16.384M |
| 晶振穩(wěn)定性 | 2×10??/日 |
| 體積 | 80×235×305（mm） |
| 重量 | 約 6kg |
## 四、應用場景
- **電子元器件生產**：可無縫集成于晶振產線，用于出廠前的全檢或抽檢環(huán)節(jié)，確保產品符合行業(yè)標準。
- **研發(fā)與實驗室檢測**：支持自定義測試模式，助力工程師快速驗證晶振在不同負載條件下的性能表現，縮短研發(fā)周期。
- **維修與質量控制**：適用于通信設備、汽車電子、物聯網終端等領域的故障排查與來料檢驗，降低因晶振失效導致的設備風險。
## 五、服務與支持
- **無憂保修**：整機 3 年質保，核心模塊終身維護。
- **免費培訓**：提供操作視頻庫及線下工程師駐廠指導。
- **定制服務**：支持非標頻率擴展與私有協議對接。
智慧源 GDS-80S 晶振測試儀憑借其性能和豐富的功能，為電子元器件制造與研發(fā)領域提供了高精度、高效率的晶振檢測解決方案。
