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## 革新PCB晶振測試體驗：GDS-5B 非接觸式32.768KHz晶振專用分析儀  

在智能穿戴、IoT設(shè)備、鐘表模塊及微型控制器廣泛應(yīng)用的時代，**32.768KHz晶體**作為實時時鐘（RTC）的“脈搏”，其穩(wěn)定性直接影響設(shè)備計時精度與續(xù)航能力。傳統(tǒng)接觸式測試需拔插晶振或焊接探針，效率低、易損傷微小貼片元件，且難以滿足產(chǎn)線高速檢測需求。**GDS-5B非接觸式晶振測試儀**應(yīng)勢而生——專為32.768KHz晶體設(shè)計，無需物理接觸，3秒完成PCB在線檢測，重新定義高效、無損、精準(zhǔn)的晶振驗證新標(biāo)準(zhǔn)！  

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### **GDS-5B非接觸式晶振測試儀核心突破：非接觸式技術(shù)，告別傳統(tǒng)**  

? **電磁感應(yīng)非接觸檢測**  

  采用高靈敏度近場感應(yīng)探頭，精準(zhǔn)捕捉PCB上晶振工作時輻射的微電磁信號，**無需焊接、無需拔插、無需破壞電路**。兼容插件式（DIP）與貼片式（SMD）晶體，尤其適合微型化PCB設(shè)計。  

? **32.768KHz深度優(yōu)化，精度高**  

  針對低頻晶振特性強化算法，頻率測量精度達 **±0.1 ppm**，分辨率 **0.01 ppm**，輕松識別±5秒/天以上的走時偏差，滿足鐘表級校準(zhǔn)需求。  

? **三秒極速診斷，批量無憂**  

  探頭靠近晶振1~3cm范圍，3秒內(nèi)自動鎖定信號，實時顯示 **頻率值、日差（秒/天）、信號強度**，支持產(chǎn)線連續(xù)作業(yè)，效率提升300%。  

? **智能抗干擾，復(fù)雜環(huán)境穩(wěn)如磐石**  

  動態(tài)濾波技術(shù)，有效屏蔽主板MCU、電源噪聲等干擾，即使在高集成度PCB上也能精準(zhǔn)分離晶振信號，誤檢率＜0.1%。  

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### **為工程師量身打造：極簡操作，專業(yè)洞察**  

? **一體式便攜設(shè)計**  

  手持式探頭+主機一體化結(jié)構(gòu)，重量僅350g，單手即可操作，維修工位、產(chǎn)線抽檢、外場調(diào)試無縫切換。  

? **可視化診斷反饋**  

  2.4英寸彩色LCD屏直觀顯示：  

  - ? **實時頻率**（32.768KHz ±Δf）  

  - ? **日差換算**（-5.0秒/天 ~ +5.0秒/天）  

  - ? **信號質(zhì)量條**（綠色/黃色/紅色預(yù)警）  

  - ? **溫度監(jiān)測**（環(huán)境溫度補償，-10℃~50℃）  

? **聲光雙模提示**  

  合格（綠燈長亮+蜂鳴1聲） / 異常（紅燈閃爍+長蜂鳴），嘈雜車間也能清晰識別結(jié)果。  

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### **關(guān)鍵參數(shù)一覽**  

| **類別**         | **規(guī)格**                              |  

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| **測試對象**      | 32.768KHz石英晶體（插件DIP/貼片SMD） |  

| **測試方式**      | 非接觸電磁感應(yīng)（距離1~3cm）           |  

| **測量精度**      | ±0.1 ppm（23℃±2℃）                   |  

| **日差顯示范圍**  | -99.9 ~ +99.9 秒/天                   |  

| **響應(yīng)時間**      | ≤3秒/次                              |  

| **工作溫度**      | -10℃ ~ 50℃                           |  

| **供電**          | 可充電鋰電池（續(xù)航40小時）            |  

| **輸出接口**      | Micro USB（數(shù)據(jù)導(dǎo)出/充電）            |  

| **尺寸/重量**     | 180mm×65mm×35mm / 350g               |  

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### **應(yīng)用場景全覆蓋**  

- **PCB生產(chǎn)端**  

  → SMT貼片后在線快速抽檢，杜絕虛焊/頻偏不良品流入下一工序  

- **鐘表/穿戴設(shè)備維修**  

  → 不拆機診斷智能手表、健康手環(huán)RTC晶振故障（停振、頻偏）  

- **消費電子質(zhì)檢**  

  → 手機主板、TWS耳機、IoT模組的RTC電路出廠前批量篩查  

- **電子工程師調(diào)試**  

  → 研發(fā)階段驗證晶振匹配性，排查電磁干擾導(dǎo)致的計時異常  

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### **為什么選擇GDS-5B？**  

> **“無需焊接探針，不拆貼片屏蔽罩——  

>   讓32.768KHz晶振檢測像掃碼槍一樣簡單！”**  

- **零損傷**：避免接觸式測試導(dǎo)致的引腳斷裂、焊盤脫落風(fēng)險  

- **降成本**：減少測試夾具投入，人員培訓(xùn)成本直降70%  

- **鎖故障**：精準(zhǔn)定位由晶振老化、電容失配、EMI干擾引發(fā)的計時問題  

- **提口碑**：維修店現(xiàn)場演示“秒級診斷”，增強客戶信任感  

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**即刻升級您的晶振測試方式！**  

GDS-5B非接觸式測試儀——為32.768KHz而生，讓PCB晶振檢測告別繁瑣，擁抱高效！