武漢通用型探針臺(tái)特點(diǎn)
模塊化設(shè)計(jì)：許多通用型探針臺(tái)采用模塊化結(jié)構(gòu)，客戶可根據(jù)自身需求選擇不同的模塊和配件進(jìn)行組合配置。例如可選擇不同類型的探針座、卡盤、顯微鏡系統(tǒng)、溫度控制模塊、真空系統(tǒng)等，以滿足當(dāng)前和未來不同的測試需求，降低成本的同時(shí)提高設(shè)備的靈活性和可擴(kuò)展性。如 FormFactor 的部分探針臺(tái)引入模塊化概念，用戶可先選主機(jī)型，再按需選配件或套裝。
多種探針兼容：能兼容多種類型的探針，如直流探針、射頻探針、高功率探針等，可進(jìn)行直流、射頻、微波等不同類型的電性能測試，還可支持開爾文連接等特殊測試方法，適用于不同性質(zhì)的被測器件和不同的測試參數(shù)要求。例如某些通用型探針臺(tái)可提供 INFINITY、ACP 探針、|Z | 探針等多種可選探針。
精確定位與對準(zhǔn)：具備一定精度的定位系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)探針在平面（X、Y 方向）和垂直（Z 方向）上的精確移動(dòng)和定位，以及角度微調(diào)等功能，確保探針能準(zhǔn)確接觸到被測器件的測試點(diǎn)，且重復(fù)精度較高。常見的定位精度可達(dá)微米級，如 X/Y 樣品臺(tái)分辨率 5μm 等，針座的接觸 / 分離行程重復(fù)精度可達(dá) ±1μm 左右等。
樣品臺(tái)多樣：樣品臺(tái)（卡盤）有多種尺寸可選，以適應(yīng)不同大小的樣品，如 4 英寸、6 英寸、8 英寸、12 英寸等晶圓，或其他尺寸的芯片、平板等樣品。部分樣品臺(tái)還具有真空吸附功能，可穩(wěn)定固定樣品，并且可能具備 Z 方向調(diào)節(jié)、拉出設(shè)計(jì)等特殊功能，以及良好的表面平整度，以保證接觸力度的一致性。例如有的載物臺(tái)基座移動(dòng)摩擦力可調(diào)、可鎖定，有 Z 方向調(diào)節(jié)功能和 90mm 拉出設(shè)計(jì)，表面平整度 ±5μm。
顯微鏡系統(tǒng)輔助：通常配備顯微鏡系統(tǒng)，如體式顯微鏡等，具有一定的放大倍率（如 15x - 100x 等）和光學(xué)分辨率（如 1μm 等），可幫助操作人員觀察探針與樣品的接觸情況，進(jìn)行精確的對準(zhǔn)操作，部分還具有 CCD 安裝接口，方便連接相機(jī)進(jìn)行圖像采集和觀察。
功能可擴(kuò)展性：除了基本的電性能測試功能外，還可擴(kuò)展其他功能。例如可添加溫度控制模塊實(shí)現(xiàn)高低溫測試，或配備真空系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境測試，也能與自動(dòng)化測試軟件結(jié)合實(shí)現(xiàn)測試流程的自動(dòng)化，還可支持光學(xué)測試、失效分析等多種測試手段。
武漢通用型探針臺(tái)應(yīng)用場景
半導(dǎo)體研發(fā)與生產(chǎn)：
可用于晶圓測試（WAT/CP 測試），對晶圓上的芯片進(jìn)行電學(xué)性能參數(shù)測試，如 IV/CV 特性測試等，篩選不良芯片，在半導(dǎo)體制造過程中進(jìn)行質(zhì)量控制。
適用于封裝后的芯片測試，檢測封裝對芯片性能的影響，以及進(jìn)行最終的質(zhì)量驗(yàn)證。
幫助研發(fā)人員進(jìn)行半導(dǎo)體器件的特性表征和研發(fā)工作，如研究新器件的電學(xué)性能、探索新的制造工藝對器件性能的影響等。
光電器件測試：能對 LD/LED/PD 等光電器件進(jìn)行光強(qiáng)、波長測試，測量光電材料的光電轉(zhuǎn)換效率和穩(wěn)定性等光學(xué)和電學(xué)性能參數(shù)。
材料科學(xué)研究：可用于表征材料的電學(xué)性質(zhì)，如測量納米材料的電導(dǎo)率、電阻、電容等，也可對材料表面的微觀形態(tài)進(jìn)行觀察和分析（配合顯微鏡系統(tǒng)），為材料研究提供支持。
失效分析：用于分析電子器件的失效原因，通過測試器件在不同條件下的電性能，定位故障點(diǎn)，如射頻特性等電子器件失效分析。
其他領(lǐng)域：還應(yīng)用于微電子、機(jī)電、納米技術(shù)、生物醫(yī)學(xué)（如研究生物材料表面的生物相容性等）、科研與教育、能源行業(yè)、航天航空、汽車電子、通信技術(shù)、量子計(jì)算與量子信息、傳感器技術(shù)等多個(gè)領(lǐng)域的相關(guān)測試和研究工作。
常見類型及舉例
手動(dòng)通用型探針臺(tái)：如 Micromanipulator 的 4060 探針臺(tái)，是一款 6 - 8 英寸（150 - 200mm）的手動(dòng)分析型通用探針臺(tái)，設(shè)計(jì)用于日常的失效分析、器件表征和可靠性測試等應(yīng)用，具有高效、穩(wěn)定和可靠的特點(diǎn)，可通過配置不同的附件（如探針卡 holders、熱卡盤、操縱器等）滿足特定需求。
可擴(kuò)展功能的通用型探針臺(tái)：一些探針臺(tái)出廠時(shí)可根據(jù)客戶需求配置成不同的制冷方式（如液氦制冷或液氮制冷）的低溫探針臺(tái)，還可添加其他選件實(shí)現(xiàn)多種功能，像易捷測試的 LH - CPX 低溫探針臺(tái)，屬于通用高性能設(shè)備，可應(yīng)用于 WAT/CP 測試、RF/mmW 測試、高低溫測試、光電器件測試、晶圓級失效分析等眾多領(lǐng)域，采用模塊化設(shè)計(jì)，能滿足絕大多數(shù)實(shí)驗(yàn)需求。
